feat(V4B): V4.29 — C_eff 标定定稿 68 (0Ω板低频档) + 硬件疑点闭环
硬件修复(用户): 拨码三极管 5.1K→0Ω → 第二颗33nF真正并联 0Ω板低频档实测: 52k/136µH→C_eff=68.9; 127k/23µH→68.3; 88k/48µH→68.1 (均值68.4≈名义66) → V4.28 的 43nF 为 5.1K 旧板带病特性(三极管未饱和导通, 并联只等效+8.6nF), 作废 改动: COIL_CAL_C_NF 43→68; 33nF档标定34(旧板)待0Ω板复测 验证: 68 回代残差 ≤1.5% (52k→138vs136; 127k→23vs23; 88k→48vs48) 文档: devlog V2.27 / spec V2.8 / design doc v0.6
This commit is contained in:
@@ -4,6 +4,47 @@
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## 2026-09-03 — C_eff 标定定稿 68(0Ω 板低频档)+ 硬件疑点闭环(固件 V4.29)
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> **固件版本:V4.29**(cmcng.h:FIRMWARE_VER="4.29" + MAIN=4/SUB=29)。devlog 修订 V2.27。
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### 硬件修复(用户操作)
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拨码接通第二颗 33nF 的开关电路:**三极管上 5.1K 电阻改为 0Ω**。
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(该三极管用于拨码档位时断开/接通电容。)
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### 修复效果(0Ω 板低频档实测)
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| 打印 f | 打印 L(66名义) | LCR 实际 L | C_eff 反推 |
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| 52 kHz | 141 µH | 136 µH | 68.9 nF |
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| 127 kHz | 23 µH | 23 µH | 68.3 nF |
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| 88 kHz | 49 µH | 48 µH | 68.1 nF |
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**C_eff = 68.1~68.9nF(均值 68.4)≈ 名义 66nF** → 第二颗 33nF 现在真正并联进回路。
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### 闭环结论(V4.28 的 43 作废)
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V4.28 标定的 43nF 是 **5.1K 旧板带病特性**:5.1K 电阻在三极管开关通路造成
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未饱和导通/压降 → 第二颗 33nF 只等效并入 ~8.6nF(两档 C_eff 比仅 1.25 非 2.0)。
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换 0Ω 后开关全导通 → 低频档 C_eff 回到 ~68(≈66+分布)。
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### 改动
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- COIL_CAL_C_NF 43 → **68**(0Ω 板量产默认);注释记录 43 作废原因
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- 高频档(33nF)标定仍记 34(旧板数据;0Ω 板待复测,若开关只控并联支路则不受影响)
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- 版本 V4.29;spec V2.8 / devlog V2.27 / design doc v0.6
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### 验证(用 68 回代)
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52k→138µH(实136 +1.3%) 127k→23µH(实23 +0.4%) 88k→48µH(实48 +0.2%)
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残差 ≤1.5%(用名义 66 则 +3~4%,68 更贴 LCR)
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### 待确认
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- 0Ω 板 **33nF 档** C_eff 复测(预期仍 ~34,若开关只控并联支路)
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- 量产切换 0Ω 电阻后按 68 标定
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## 2026-09-03 — 电感量估算引入 C_eff 标定(固件 V4.28)
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> **固件版本:V4.28**(cmcng.h:FIRMWARE_VER="4.28" + MAIN=4/SUB=28)。devlog 修订 V2.26。
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@@ -1188,6 +1229,7 @@ if (dev >= dlt_ORG × 4) {
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| 版本 | 时间 | 说明 |
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| V2.27 | 2026-09-03 | V4.29 硬件修复(拨码三极管5.1K→0Ω)后 C_eff=68.1~68.9nF≈名义66, COIL_CAL_C_NF 43→68 (旧43为5.1K带病特性作废) |
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| V2.26 | 2026-09-03 | V4.28 电感量估算引入标定 COIL_CAL_C_NF=43(名义 66nF vs 实测 C_eff≈43,5 组反推 41.3~45.5nF);残差 ±6% |
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| V2.25 | 2026-09-03 | V4.27 频率测量 4 倍偏差修正(calc 60000→240000:120MHz×DIV_2);coil_l_uH 随 f 修正;旧 f/L 日志需 ×4 |
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| V2.24 | 2026-09-03 | V4.26 线圈电感量告警(频率窗 20~120kHz 一长一短)+ 故障补偿 60s→10s;行尾规范化 CRLF |
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