feat(V4B): V4.36.19 — 低Q 释放抗抖 (平滑判释放+带回加宽)

问题: 43nF/高灵敏/低Q(≤50µH) 金属板边界试探 → 触发稳定但释放点外移
发散至锁死(绿灯长亮); 开 DEBUG 打印复现不了(阻塞降采样平均抖动) = 关键旁证
根因: 释放带回 dlt_rel=23 ≈ 低Q σ(±15~25), 快值判释放(5样本)被抖断
修复(Q 分档, 高/中Q 零影响):
- rel_release_hit(): 低Q 用 g_rel_smooth(τ50ms REL_ALFA=46) 判释放
- 低Q 释放带回 ×1.5 (REL_BAND_LO_MULT=150: 23→~35)
- g_rel_smooth: IIR 后跟随/CAPVD=0 与重连归零/Car_In snap
语法0 error, 4测试全绿; spec V2.35 / devlog V2.54

docs/devlog.md

@@ -4,6 +4,26 @@
 
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+## 2026-09-03 — 低Q 释放抗抖（固件 V4.36.19）
+
+> **固件版本：V4.36.19**。devlog 修订 V2.54。spec V2.35 / manual 已同步。
+
+**问题**：43nF 低频、高灵敏、低Q(50µH 以下) 线圈——金属板感应边界反复试探
+（快释放停住→缓慢离开），触发高度稳定但释放高度越拉越远，最终绿灯长亮释放不了；
+高Q 无此问题。关键旁证：**开 DEBUG 打印复现不了、禁打印可复现**——PRINT 阻塞
+把 vd1_task 样本间隔从 10ms 拉到 50ms+，等效低通，抖动被平均。
+
+**根因**：释放带回仅 dlt_rel=23 counts（0.018%@128k）≈ 低Q 抖动 σ(±15~25)，
+快值直接判释放（`CAPVD>Origin-23` 连续 5 样本）在边界试探时被抖动反复打断
+→ 释放点外移/卡死。
+
+**修复（Q 分档，高/中Q 零影响）**：
+1. `rel_release_hit()`：低Q(g_q_lo, f>100kHz) 用 g_rel_smooth（τ≈50ms,
+   REL_ALFA=46，复刻打印平均效应）判释放
+2. 低Q 释放带回 ×1.5（REL_BAND_LO_MULT=150，23→~35）提前释放留 σ 余量
+3. g_rel_smooth：IIR 后每样本跟随；CAPVD=0/重连/INIT 归零；Car_In snap=CAPVD
+语法 0 error、4 测试全绿。
+
 ## 2026-09-03 — 频率窗下界 20→18kHz（固件 V4.36.18）
 
 > **固件版本：V4.36.18**（cmcng.h：FIRMWARE_VER="4.36.18"，REV=18）。devlog 修订 V2.53。
@@ -1902,6 +1922,7 @@ if (dev >= dlt_ORG × 4) {
 
 | 版本 | 时间 | 说明 |
 |------|------|------|
+| V2.54 | 2026-09-03 | V4.36.19 低Q 释放抗抖: τ50ms 平滑判释放+带回×1.5 (REL_ALFA/REL_BAND_LO_MULT), 高/中Q 零影响 |
 | V2.53 | 2026-09-03 | V4.36.18 频率窗下界 20→18kHz (18~125kHz) |
 | V2.52 | 2026-09-03 | 安全复位观感勘误(无代码): 绿灯镜像继电器后复位指示变化; manual 4.5/spec 对齐实际行为 |
 | V2.51 | 2026-09-03 | V4.36.17 修复上电无线圈黄灯不闪: 黄灯模式1 改 !LOOP_OK(5ms 实时) |