feat(V4B): V4.36.19 — 低Q 释放抗抖 (平滑判释放+带回加宽)

问题: 43nF/高灵敏/低Q(≤50µH) 金属板边界试探 → 触发稳定但释放点外移
发散至锁死(绿灯长亮); 开 DEBUG 打印复现不了(阻塞降采样平均抖动) = 关键旁证
根因: 释放带回 dlt_rel=23 ≈ 低Q σ(±15~25), 快值判释放(5样本)被抖断
修复(Q 分档, 高/中Q 零影响):
- rel_release_hit(): 低Q 用 g_rel_smooth(τ50ms REL_ALFA=46) 判释放
- 低Q 释放带回 ×1.5 (REL_BAND_LO_MULT=150: 23→~35)
- g_rel_smooth: IIR 后跟随/CAPVD=0 与重连归零/Car_In snap
语法0 error, 4测试全绿; spec V2.35 / devlog V2.54

utilities/at32f421_freertos_demo/inc/TaskLoop.h

@@ -36,6 +36,8 @@
  *===========================================================================*/
 #define   ALFA_CAP1        79            // IIR α = 79/256 ≈ 0.31 (@10ms → τ≈32ms)
 #define   RELEASE_ALFA    21            // 释放慢滤波 α = 21/256 ≈ 0.082 (@10ms → 精确τ≈117ms, V4.04: 对齐 PD132T α79@43.7ms 精确τ≈118ms; 原18→精确τ137ms偏慢)
+#define   REL_ALFA       46            // V4.36.19: 低Q 释放平滑 α=46/256≈0.18 (@10ms → τ≈50ms): 复刻打印降采样平均效应, 只用于低Q 释放判定抗抖
+#define   REL_BAND_LO_MULT 150         // V4.36.19: 低Q 释放带回加宽 % (dlt_rel×1.5: 23→35@SENS3): 释放提前+σ余量, 防边界试探锁死
 #define   USE_SLOW_RELEASE 0             // 方案A总开关: 1=释放走慢滤波(对齐PD132T) 0=原快滤波释放
 #define   USE_PLANB_TABLE  1             // 方案B (V4.06): 快滤波释放 + 灵敏度表现场调校
                                           //   1=进入加深/释放调浅双表(见 TaskLoop.c, SENS=3: 25/12 现场实测接近PD132T)

utilities/at32f421_freertos_demo/inc/cmcng.h

@@ -14,11 +14,11 @@
 #define __CMCNG_H__
 
 #define     PRODUCT_MODEL                   "DLD154"
-#define     FIRMWARE_VER                     "4.36.18"      // 主.子.修订 (2026-09-03 起: 小改动只增 REV; MAIN/SUB 由产品定)
+#define     FIRMWARE_VER                     "4.36.19"      // 主.子.修订 (2026-09-03 起: 小改动只增 REV; MAIN/SUB 由产品定)
 #define     HARDWARE_VER                  "3.00"
 #define     FIRMWARE_VER_MAIN           4
 #define     FIRMWARE_VER_SUB            36
-#define     FIRMWARE_VER_REV            18
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 #define     HARDWARE_VER_SUB          0