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问题: 43nF/高灵敏/低Q(≤50µH) 金属板边界试探 → 触发稳定但释放点外移 发散至锁死(绿灯长亮); 开 DEBUG 打印复现不了(阻塞降采样平均抖动) = 关键旁证 根因: 释放带回 dlt_rel=23 ≈ 低Q σ(±15~25), 快值判释放(5样本)被抖断 修复(Q 分档, 高/中Q 零影响): - rel_release_hit(): 低Q 用 g_rel_smooth(τ50ms REL_ALFA=46) 判释放 - 低Q 释放带回 ×1.5 (REL_BAND_LO_MULT=150: 23→~35) - g_rel_smooth: IIR 后跟随/CAPVD=0 与重连归零/Car_In snap 语法0 error, 4测试全绿; spec V2.35 / devlog V2.54