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DLD154V4B/docs/hardware/hardware-change-notes.md
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wangfq 71feb3e06d docs(V4B): 硬件变更描述勘误 — 准确改法 R19拆 + R27补焊0Ω(旁路三极管直控电容)
早期过程描述'三极管 5.1K→0Ω'更正为: R19 取下 + R27 补焊 0Ω(原空贴),
拨码开关不再经过三极管电路、经 0Ω 直控第二颗 33nF; 与 vd-analysis
models/DLD154V4B 归档的 Ver4.01 原理图一致
2026-09-03 14:58:49 +08:00

2.5 KiB
Raw Blame History

DLD154V4 硬件变更记录 (Hardware Change Notes)

关联仓库:DLD154V4B(固件/文档)。原理图归档见 docs/hardware/。 本文记录与固件标定/行为相关的硬件变更,作为固件参数(如 COIL_CAL_C_NF)的硬件依据。


原理图归档

文件 版本 日期 说明
DLD-154_Ver4.01_20251021_Logic.pdf Ver4.01(图框残留 Ver3.01 字样,待核) 2025-10-21 单路线圈车检器原理图(AT32F421F8P7-TSSOP2012M 晶振)

PDF 为 CAD 导出的文字层(GBK 乱码 + 平铺坐标碎片),仅能确认元件存在(AT32F421F8P7、 12M Y1、两颗 33nF(*1206)、SS8050×3、拨码 SW6-DIP12、继电器 RLY1/RLY2、LEDA/B/C、 0R R26/R18 等),连线拓扑无法从文字层还原,如需网表级对照请提供 CAD 源文件。


变更记录

2026-09-03 — 拨码电容开关旁路三极管(原理图 Ver3.00→Ver4.01

背景:线圈振荡两级频率(固定 33nF + 拨码接通第二颗 33nF)。 原电路:拨码开关 → 三极管电路 → 第二颗电容。

问题2026-09-03 实测):低频档(66nF 名义)实测等效谐振电容 C_eff≈43nF 2 台×5 组线圈反推 41.3~45.5),与名义 66nF 明显不符;两档有效 C 比仅 1.25(应 2.0) → 第二颗 33nF 只等效并入 ~8.6nF三极管开关电路未能将电容全量并入

修复(用户操作,准确描述):

  • R19 取下(拆除)
  • R27 补焊 0Ω(原空贴)
  • 效果 = 拨码开关不再经过三极管电路,通过 0Ω 电阻直接控制第二颗 33nF 电容

注:早期过程记录(devlog V4.29 条目)写作"三极管 5.1K→0Ω",为本变更的过程理解表述; 以本处 R19/R27 描述为准。

修复后实测0Ω 板,低频档,3 颗线圈):

打印 f LCR 实际 L C_eff 反推
52 kHz 136 µH 68.9 nF
127 kHz 23 µH 68.3 nF
88 kHz 48 µH 68.1 nF

C_eff = 68.1~68.9nF(均值 68.4)≈ 名义 66nF → 第二颗 33nF 已真正并联。

固件关联

  • V4.28 COIL_CAL_C_NF=435.1K 旧板带病特性)作废
  • V4.29 COIL_CAL_C_NF=68(0Ω 板量产默认),L 估算残差 ≤1.5%
  • 高频档(33nF)标定参考 34(旧板数据),0Ω 板待复测

遗留

  • 图框标题 REV 仍印 Ver3.01,需与文件名 Ver4.01 对齐
  • 0Ω 板 33nF 档 C_eff 复测(预期仍 ~34,开关只控并联支路时)