docs(front-end): 图纸取证钉死 CD4060 分频比 = ÷32(Q5)；勘误 PD132T 捕获时钟 0.75MHz→3MHz

- 依据用户口径「PD136 与 PD132 接 CD4060 的电路相同」，对仓内 PD132T 逻辑图纸做像素取证：
  800dpi 逐行游程扫描确认 10 个 Q 输出中仅 Q5(pin5) 引出(476px)→ 网络 LP → MCU U2 pin9=CEX1/T1/P3.5，
  与固件 CMOD=0x04 捕获配置吻合 ⇒ 分频比 = ÷32
- 独立佐证：PD136HA 窗(400~2030)/PD132L 窗(320~1620)=1.25 = 捕获时钟比(1.5/1.2MHz) ⇒ N 相同
- 勘误：PD132T PCA 时钟 = SYSCLK/4 = 3MHz（TH0=252 + AUXR=0xC0 + T1 5ms 定时反证 SYSCLK=12MHz），
  测量节拍 43.7ms→10.92ms；连带修正 6 处派生量（IIR τ、基线周期、响应时间、对比结论）
- 同步 5 份受影响文档并加日期勘误标注；阈值/百分比口径不受影响（N×f_cap 乘积不变）

models/DLD154V4B/analysis.md

@@ -60,7 +60,7 @@ V4.26 电感量监视+补偿提速 → V4.27 频率测量 4 倍修正 → V4.28/
 - **进入/释放确认按 Q 档**（V4.36.8，Q∝1/f 代理）：进入 ENTRY_CONFIRM 高Q(f≤80k)=3 / 中Q(80~100k)=4 / 低Q(f>100k)=5；
   释放 REL_CONFIRM 高3 / 中4 / 低5（低Q 抖动大，多样本防假进入/输出抖落）
 - **低Q 释放平滑**（V4.36.19/26）：`REL_ALFA=30` @10ms → τ≈85ms，独立 IIR 仅用于低Q 释放判定（复刻打印降采样平均效应抗抖）
-- 释放慢滤波 `RELEASE_ALFA=21` @10ms → τ≈117ms（对齐 PD132T α79@43.7ms）
+- 释放慢滤波 `RELEASE_ALFA=21` @10ms → τ≈117ms（**2026-09-11 勘误**：旧注「对齐 PD132T α79@43.7ms」依据失效 —— PD132T 捕获时钟实为 3MHz ⇒ 节拍 10.92ms ⇒ 精确 τ(α79)≈29.6ms，即 V4B 释放实际比 PD132T **慢约 4×**。现场表现（V4B 释放更晚、金属板工况已通过）与此相符；是否回调由现场复测定，见 `docs/filter-coefficient-79-vs-64.md` §4.4 勘误）
 
 ### 3.3 基线