fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

现场: 烧录快照固件后 CH32V208 不断重启 + 串口乱码
根因: snap_init 首擦 751 扇区 ~34s (头在擦完才写→复位后仍全新→死循环);
      snap_clear 34s / offlog_clear 2.8s 同类; 均超 IWDG 4s
修复(懒擦): init/clear 只擦写指针起点扇区 ~45ms, 其余由环形写切扇区
      逻辑自动擦; clear 为逻辑清除 (count=0 旧数据不可读)
附带: usart_biz.c 非 0x7F 帧 %s 打印改 hex (Loop 数据当字符串=乱码源)
      snapshot.h 线程模型注释修正 (lup_process_frame 实际在主循环 uart_srv)
测试: test_snapshot 9例(新增 lazy_erase) + offlog/ble_offlog 回归全过

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/snapshot.h

@@ -22,13 +22,13 @@
  *    - 顺序写, 写满擦下一扇区 (环形覆盖), 天然磨损均衡
  *    - 上电从头部记录的写位置向后扫描, 找第一条无效记录 = 真实写位置 (掉电恢复)
  *
- *  线程模型 (关键):
- *    - snap_enqueue(): 中断上下文 (USART2 ISR → lup_process_frame → iot_sensor_ingest),
- *      只做打包 + RAM 环形暂存 (memcpy, 无阻塞, 无 SPI 操作); 满时丢新不覆盖
- *    - snap_flush():   主循环上下文 (iot_mqtt_publish_sensor), RAM 暂存 → SPI 落盘
- *      (扇区切换擦除 ~45ms 阻塞仅发生在主循环, 与 offlog 同底线)
- *    - 单生产者 (中断) 单消费者 (主循环) 无锁环形: 生产者只写 tail,
- *      消费者只读 head, 留一格判满
+ *  线程模型 (关键, 2026-08-12 修正):
+ *    - USART2 ISR 只逐字节喂 lup_feed_byte(), 完整帧由主循环 uart_srv() 调
+ *      lup_process_frame → iot_sensor_ingest → snap_enqueue() — 全程主循环
+ *    - snap_enqueue(): 打包 + RAM 环形暂存 (无 SPI, 无阻塞); 满时丢新不覆盖
+ *    - snap_flush():   iot_mqtt_publish_sensor 每轮调用, RAM 暂存 → SPI 落盘
+ *      (扇区切换擦除 ~45ms 阻塞发生在主循环, 与 offlog 同底线)
+ *    - 单生产者单消费者无锁环形: 生产者只写 tail/count, 消费者只读 head
  *
  *  记录格式 SnapRec (64B 定长, 无 padding):
  *    magic(1) len(1) flags(1) rsvd(1) | seq(4) ts_ms(4) boot_seq(2) rsvd2(2) | coils(48)
@@ -124,7 +124,7 @@ typedef struct {
 void snap_init(void);                           /* 上电初始化 (扫描恢复) */
 uint8_t snap_enabled(void);                     /* Flash 初始化成功 */
 
-void snap_enqueue(const LUP_SensorReport *sr);  /* 中断安全: 打包→RAM 暂存 (满丢新) */
+void snap_enqueue(const LUP_SensorReport *sr);  /* 主循环入队: 打包→RAM 暂存 (满丢新) */
 void snap_flush(void);                          /* 主循环: RAM 暂存→SPI 落盘 */
 
 uint32_t snap_count(void);                      /* 有效记录数 */