fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

现场: 烧录快照固件后 CH32V208 不断重启 + 串口乱码
根因: snap_init 首擦 751 扇区 ~34s (头在擦完才写→复位后仍全新→死循环);
      snap_clear 34s / offlog_clear 2.8s 同类; 均超 IWDG 4s
修复(懒擦): init/clear 只擦写指针起点扇区 ~45ms, 其余由环形写切扇区
      逻辑自动擦; clear 为逻辑清除 (count=0 旧数据不可读)
附带: usart_biz.c 非 0x7F 帧 %s 打印改 hex (Loop 数据当字符串=乱码源)
      snapshot.h 线程模型注释修正 (lup_process_frame 实际在主循环 uart_srv)
测试: test_snapshot 9例(新增 lazy_erase) + offlog/ble_offlog 回归全过

vd960DBN/tests/test_snapshot.c

@@ -333,6 +333,41 @@ static void test_part_table(void)
     printf("PASS test_part_table\n");
 }
 
+/* 测试9: 懒擦 — init 只擦当前写扇区, 其余扇区由环形写切扇区时覆盖
+   (修复: 原 init 擦全部 751 扇区 ~34s → 主循环阻塞超 IWDG 4s → 不断复位) */
+static void test_lazy_erase(void)
+{
+    LUP_SensorReport sr;
+    SnapRec r;
+    uint32_t i;
+
+    reset_flash();
+    /* 在数据扇区 2 预埋旧数据 (模拟 Flash 残留) */
+    flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] = 0xAA;
+    flash[SNAP_DATA_BASE + 4096 + 1] = 0x55;
+
+    snap_init();
+    /* 懒擦: 只擦扇区 1, 扇区 2 保持旧数据 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE] == 0xFF);               /* 扇区1 已擦 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] == 0xAA);        /* 扇区2 未动 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096 + 1] == 0x55);
+
+    make_report(&sr, 0x600, 600);
+    for (i = 0; i < 64; i++) {                          /* 写满扇区 1 */
+        snap_enqueue(&sr);
+        snap_flush();
+    }
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] == 0xAA);        /* 仍在扇区 1 内, 扇区2 未动 */
+
+    snap_enqueue(&sr);                                  /* 第 65 条切扇区 */
+    snap_flush();
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] != 0xAA);        /* 扇区2 已擦并写入新数据 */
+    CHECK(snap_read_idx(64, &r) == 0);
+    CHECK(r.seq == 65);
+    CHECK(snap_count() == 65);
+    printf("PASS test_lazy_erase\n");
+}
+
 int main(void)
 {
     test_fresh_init_and_flush();
@@ -343,6 +378,7 @@ int main(void)
     test_ram_overflow_drop();
     test_clear_audit();
     test_part_table();
+    test_lazy_erase();
 
     if (failures) {
         printf("\n%d FAILURE(S)\n", failures);