fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

现场: 烧录快照固件后 CH32V208 不断重启 + 串口乱码
根因: snap_init 首擦 751 扇区 ~34s (头在擦完才写→复位后仍全新→死循环);
      snap_clear 34s / offlog_clear 2.8s 同类; 均超 IWDG 4s
修复(懒擦): init/clear 只擦写指针起点扇区 ~45ms, 其余由环形写切扇区
      逻辑自动擦; clear 为逻辑清除 (count=0 旧数据不可读)
附带: usart_biz.c 非 0x7F 帧 %s 打印改 hex (Loop 数据当字符串=乱码源)
      snapshot.h 线程模型注释修正 (lup_process_frame 实际在主循环 uart_srv)
测试: test_snapshot 9例(新增 lazy_erase) + offlog/ble_offlog 回归全过

docs/DLD960_BLE协议.md

@@ -168,7 +168,7 @@ Magic  |     Header       |  Data  |   CheckByte
 **请求 data：** 无。**响应 data（1B）：** `status`：`0x00`=OK。
 
 > ⚠ **高风险操作**：清除动作本身写入**事件流** `log_clear` 审计（payload[0]=2=快照流，不可清除）。
-> ⚠ **阻塞时长随芯片**：W25Q32 快照 751 扇区 SPI 擦除 ≈ 34s，期间主循环阻塞。请勿高频调用。
+> 阻塞 ~45ms：逻辑清除（count=0 旧数据立即不可读）+ 只擦写指针起点扇区，其余扇区由环形写覆盖时自动擦（原擦全部 751 扇区 ~34s，会触发 IWDG 4s 复位——2026-08-12 修复）。
 
 成功后 `SNAP_STAT` 的 `count` 归 0，`seq_last` 继续递增（序号不复位）。
 

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/dbn_ble_srv.c

@@ -1006,7 +1006,7 @@ void manage_dbn_ble_default(uint8_t *pkg, uint8_t len)
                   (unsigned long)_start_seq, (unsigned long)_req_count, (unsigned)_j);
         } break;
         case CMD_DBN_OFFLOG_CLEAR: {
-            /* clear offlog (audit trail). blocking ~2.8s (63 sectors erase), main-loop ctx ok */
+            /* clear offlog (audit trail). blocking ~45ms (logical clear + current sector), main-loop ctx ok */
             uint8_t _i = 0;
             offlog_clear();
             tmp_ble_buf[_i++] = 0x00;    /* ok */
@@ -1097,7 +1097,7 @@ void manage_dbn_ble_default(uint8_t *pkg, uint8_t len)
                   (unsigned long)_start_seq, (unsigned long)_req_count, (unsigned)_j);
         } break;
         case CMD_DBN_SNAP_CLEAR: {
-            /* clear snapshot (audit trail). blocking (sectors erase), main-loop ctx ok */
+            /* clear snapshot (audit trail). blocking ~45ms (logical clear + current sector) */
             uint8_t _i = 0;
             snap_clear();
             tmp_ble_buf[_i++] = 0x00;    /* ok */

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/snapshot.h

@@ -22,13 +22,13 @@
  *    - 顺序写, 写满擦下一扇区 (环形覆盖), 天然磨损均衡
  *    - 上电从头部记录的写位置向后扫描, 找第一条无效记录 = 真实写位置 (掉电恢复)
  *
- *  线程模型 (关键):
- *    - snap_enqueue(): 中断上下文 (USART2 ISR → lup_process_frame → iot_sensor_ingest),
- *      只做打包 + RAM 环形暂存 (memcpy, 无阻塞, 无 SPI 操作); 满时丢新不覆盖
- *    - snap_flush():   主循环上下文 (iot_mqtt_publish_sensor), RAM 暂存 → SPI 落盘
- *      (扇区切换擦除 ~45ms 阻塞仅发生在主循环, 与 offlog 同底线)
- *    - 单生产者 (中断) 单消费者 (主循环) 无锁环形: 生产者只写 tail,
- *      消费者只读 head, 留一格判满
+ *  线程模型 (关键, 2026-08-12 修正):
+ *    - USART2 ISR 只逐字节喂 lup_feed_byte(), 完整帧由主循环 uart_srv() 调
+ *      lup_process_frame → iot_sensor_ingest → snap_enqueue() — 全程主循环
+ *    - snap_enqueue(): 打包 + RAM 环形暂存 (无 SPI, 无阻塞); 满时丢新不覆盖
+ *    - snap_flush():   iot_mqtt_publish_sensor 每轮调用, RAM 暂存 → SPI 落盘
+ *      (扇区切换擦除 ~45ms 阻塞发生在主循环, 与 offlog 同底线)
+ *    - 单生产者单消费者无锁环形: 生产者只写 tail/count, 消费者只读 head
  *
  *  记录格式 SnapRec (64B 定长, 无 padding):
  *    magic(1) len(1) flags(1) rsvd(1) | seq(4) ts_ms(4) boot_seq(2) rsvd2(2) | coils(48)
@@ -124,7 +124,7 @@ typedef struct {
 void snap_init(void);                           /* 上电初始化 (扫描恢复) */
 uint8_t snap_enabled(void);                     /* Flash 初始化成功 */
 
-void snap_enqueue(const LUP_SensorReport *sr);  /* 中断安全: 打包→RAM 暂存 (满丢新) */
+void snap_enqueue(const LUP_SensorReport *sr);  /* 主循环入队: 打包→RAM 暂存 (满丢新) */
 void snap_flush(void);                          /* 主循环: RAM 暂存→SPI 落盘 */
 
 uint32_t snap_count(void);                      /* 有效记录数 */

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/offlog.c

@@ -142,11 +142,9 @@ void offlog_init(void)
 
     if (!(h.magic[0] == OFFLOG_HEAD_MAGIC0 && h.magic[1] == OFFLOG_HEAD_MAGIC1 &&
           h.magic[2] == OFFLOG_HEAD_MAGIC2 && h.magic[3] == OFFLOG_HEAD_MAGIC3)) {
-        /* 全新区: 擦全部数据扇区, 写头 */
-        uint32_t i;
-        for (i = 0; i < OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT; i++) {
-            SPI_Flash_Erase_Sector(OFFLOG_DATA_BASE / 4096 + i);
-        }
+        /* 全新区: 懒擦 — 只擦当前写扇区 ~45ms (原擦全部 127 扇区 ~5.7s,
+           主循环阻塞超 IWDG 4s 风险), 其余由环形写切扇区时自动擦 */
+        SPI_Flash_Erase_Sector(OFFLOG_DATA_BASE / 4096);
         memset(&h, 0xFF, sizeof(h));
         h.magic[0] = OFFLOG_HEAD_MAGIC0;
         h.magic[1] = OFFLOG_HEAD_MAGIC1;
@@ -478,12 +476,11 @@ int offlog_evt_to_json(const OfflogEvt *e, char *buf, int buf_len)
  *===========================================================================*/
 void offlog_clear(void)
 {
-    uint32_t i;
     if (!_ready) return;
 
-    for (i = 0; i < OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT; i++) {
-        SPI_Flash_Erase_Sector(OFFLOG_DATA_BASE / 4096 + i);
-    }
+    /* 逻辑清除 + 只擦写指针起点扇区 (~45ms, 原 2.8s 接近 IWDG 4s 风险):
+       count=0 使旧数据不可读, 其余扇区由环形写覆盖时自动擦 */
+    SPI_Flash_Erase_Sector(OFFLOG_DATA_BASE / 4096);
     _wr_off    = OFFLOG_DATA_BASE;
     _wr_sector = 1;
     _count     = 0;

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/snapshot.c

@@ -167,11 +167,9 @@ void snap_init(void)
 
     if (!(h.magic[0] == SNAP_HEAD_MAGIC0 && h.magic[1] == SNAP_HEAD_MAGIC1 &&
           h.magic[2] == SNAP_HEAD_MAGIC2 && h.magic[3] == SNAP_HEAD_MAGIC3)) {
-        /* 全新区: 擦全部数据扇区, 写头 */
-        uint32_t i;
-        for (i = 0; i < SNAP_DATA_SECTOR_CNT; i++) {
-            SPI_Flash_Erase_Sector(SNAP_DATA_BASE / 4096 + i);
-        }
+        /* 全新区: 懒擦 — 只擦当前写扇区 (数据扇区1) ~45ms, 其余扇区由环形写
+           切扇区时自动擦。原擦全部 751 扇区 ~34s → 主循环阻塞超 IWDG 4s → 复位 */
+        SPI_Flash_Erase_Sector(SNAP_DATA_BASE / 4096);
         memset(&h, 0xFF, sizeof(h));
         h.magic[0] = SNAP_HEAD_MAGIC0;
         h.magic[1] = SNAP_HEAD_MAGIC1;
@@ -306,7 +304,9 @@ static void snap_pack(const LUP_SensorReport *sr, SnapRec *rec)
 }
 
 /*===========================================================================
- * 中断安全入队 (USART2 ISR 上下文; 无 SPI, 无阻塞; 满丢新不覆盖)
+ * 入队 (主循环上下文: uart_srv → lup_process_frame → iot_sensor_ingest)
+ *   USART2 ISR 只逐字节喂 lup_feed_byte, 完整帧由主循环 uart_srv 处理 →
+ *   本函数不在中断里, 但保留 RAM 暂存 + flush 两段式: 批量落盘省 SPI 写次数
  *   - 生产者只写 g_snap_wr / g_snap_pending / g_snap_count
  *   - 消费者只读 g_snap_rd; count 为 volatile 字节, 单核单指令读写天然原子
  *   - 满判定: count >= DEPTH (容量 = SNAP_RAM_DEPTH)
@@ -389,12 +389,11 @@ int snap_read_idx(uint32_t idx, SnapRec *out)
  *===========================================================================*/
 void snap_clear(void)
 {
-    uint32_t i;
     if (!_ready) return;
 
-    for (i = 0; i < SNAP_DATA_SECTOR_CNT; i++) {
-        SPI_Flash_Erase_Sector(SNAP_DATA_BASE / 4096 + i);
-    }
+    /* 逻辑清除 + 只擦写指针起点扇区 (~45ms): count=0 使旧数据不可读,
+       其余扇区由环形写覆盖时自动擦。原擦全部 751 扇区 ~34s > IWDG 4s → 复位 */
+    SPI_Flash_Erase_Sector(SNAP_DATA_BASE / 4096);
     _wr_off    = SNAP_DATA_BASE;
     _wr_sector = 1;
     _count     = 0;

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/usart_biz.c

@@ -191,8 +191,12 @@ void uart_srv(void)
 
             }
             else {
-                // 非 0x7F 魔法字节
-                PRINT("Rcv_len:%d,dat: %s\n", g_pkg_uart_2.offset, g_pkg_uart_2.pkg);
+                // 非 0x7F 魔法字节 — hex 打印 (原 %s 会把二进制当字符串 → 乱码)
+                PRINT("Rcv_len:%d,dat:", g_pkg_uart_2.offset);
+                for(i = 0; i < g_pkg_uart_2.offset; i++){
+                    PRINT(" %02X", g_pkg_uart_2.pkg[i]);
+                }
+                PRINT("\n");
             }
         }
         else{

vd960DBN/docs/devlog.md

@@ -6,6 +6,43 @@
 
 ---
 
+## 2026-08-12 — 设备不断重启修复：init/clear 同步全量擦除阻塞超 IWDG
+
+### 现场症状
+
+烧录快照固件后 CH32V208 不断重启，启动打印（`CH32V20x_BLE_LIB` / `SystemCoreClock` / `W25Q32 OK!`）后出现乱码：`>>8>潈8>�0>8�...`。
+
+### 根因链
+
+| # | 环节 | 问题 |
+|---|------|------|
+| 1 | `snap_init()` 全新区 | 首次初始化**同步擦全部 751 个数据扇区 ≈ 34s**（SPI 擦除 45ms/扇区） |
+| 2 | IWDG 看门狗 4s（iot_mqtt_srv.c:978） | 34s 主循环阻塞 → 看门狗超时 → 复位 |
+| 3 | 复位后快照区仍无 "SNAP" magic | 头在擦完数据扇区后才写 → 下次启动又全新区 → **再擦 34s → 再复位 = 死循环** |
+| 4 | `offlog_init()` 首擦 5.7s / `offlog_clear()` 2.8s | 同类隐患（事件区全新或清空时） |
+| 5 | `snap_clear()` 擦 751 扇区 34s | IWDG 启用后执行 BLE SNAP_CLEAR 命令 → 必复位 |
+| 6 | `usart_biz.c:195` 非 0x7F 帧 `%s` 打印 | Loop MCU 数据被当字符串 → 串口乱码刷屏 |
+
+> 附带修正认知：`lup_process_frame` 实际由**主循环** `uart_srv()` 调用（usart_biz.c:166），USART2 ISR 只逐字节喂 `lup_feed_byte()`。快照 enqueue/flush 全程主循环上下文——此前 snapshot.h 注释误标"ISR 上下文"。
+
+### 修复：懒擦（init/clear 只擦当前写扇区，45ms）
+
+- `snap_init` / `offlog_init` 全新区：只擦数据扇区 1（写指针起点），其余扇区由环形写**切扇区逻辑自动擦**（write_raw 已有 has_data 判定）
+- `snap_clear` / `offlog_clear`：**逻辑清除**（count=0 → 旧数据立即不可读）+ 只擦写指针起点扇区；其余扇区写覆盖时逐个擦
+- `usart_biz.c`：非 0x7F 帧 `%s` 打印改 hex（` %02X`），杜绝二进制当字符串
+
+启动阻塞 34s → 45ms；SNAP_CLEAR 阻塞 34s → 45ms。环形覆盖语义完全不变。
+
+### 测试
+
+`test_snapshot` 9 例全过（新增 test_lazy_erase：预埋扇区 2 旧数据，init 后保持，写满 64 条切扇区时正确覆盖）；`test_offlog` 8 例、`test_ble_offlog` 7 例回归全过。
+
+### 待现场确认
+
+- 乱码另一可能源：**Loop MCU ↔ CH32 UART2 波特率/接线**（192000 应为标准 0x7F 帧；若 Loop 发送端配置不同，帧头识别失败 → 非 0x7F 路径）。hex 打印修复后可通过 `Rcv_len:xx,dat: 7F 00 ...` 判断 Loop 帧是否正常到达。
+
+---
+
 ## 2026-08-12 — 传感快照区落地（snapshot.c，BLE 新增 0x28/0x29/0x2A）
 
 ### 背景

vd960DBN/tests/test_snapshot.c

@@ -333,6 +333,41 @@ static void test_part_table(void)
     printf("PASS test_part_table\n");
 }
 
+/* 测试9: 懒擦 — init 只擦当前写扇区, 其余扇区由环形写切扇区时覆盖
+   (修复: 原 init 擦全部 751 扇区 ~34s → 主循环阻塞超 IWDG 4s → 不断复位) */
+static void test_lazy_erase(void)
+{
+    LUP_SensorReport sr;
+    SnapRec r;
+    uint32_t i;
+
+    reset_flash();
+    /* 在数据扇区 2 预埋旧数据 (模拟 Flash 残留) */
+    flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] = 0xAA;
+    flash[SNAP_DATA_BASE + 4096 + 1] = 0x55;
+
+    snap_init();
+    /* 懒擦: 只擦扇区 1, 扇区 2 保持旧数据 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE] == 0xFF);               /* 扇区1 已擦 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] == 0xAA);        /* 扇区2 未动 */
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096 + 1] == 0x55);
+
+    make_report(&sr, 0x600, 600);
+    for (i = 0; i < 64; i++) {                          /* 写满扇区 1 */
+        snap_enqueue(&sr);
+        snap_flush();
+    }
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] == 0xAA);        /* 仍在扇区 1 内, 扇区2 未动 */
+
+    snap_enqueue(&sr);                                  /* 第 65 条切扇区 */
+    snap_flush();
+    CHECK(flash[SNAP_DATA_BASE + 4096] != 0xAA);        /* 扇区2 已擦并写入新数据 */
+    CHECK(snap_read_idx(64, &r) == 0);
+    CHECK(r.seq == 65);
+    CHECK(snap_count() == 65);
+    printf("PASS test_lazy_erase\n");
+}
+
 int main(void)
 {
     test_fresh_init_and_flush();
@@ -343,6 +378,7 @@ int main(void)
     test_ram_overflow_drop();
     test_clear_audit();
     test_part_table();
+    test_lazy_erase();
 
     if (failures) {
         printf("\n%d FAILURE(S)\n", failures);