feat(vd960DBN): 恢复快照区功能, 移除 sim_snap_spi 实验桩, UART2 波特率注释修正

- peripheral_main.c: snap_init() 恢复 (去 #if 0), offlog_boot() 恢复
  (上电复位原因记入事件日志); 删除 sim_snap_spi 模拟写密度实验函数
  及主循环调用 (printf 重入修复后 SPI 写无罪已确诊, 实验收尾)
- loop_uart_proto.h/c: UART2 波特率注释 115200/19200 -> 192000
  (usart_biz.c 硬编码 192000 为实际值; g_storage_uart_baud=19200
  为独立配置项不驱动 UART2, BLE 显示 19200 不代表实际速率)
- devlog: 新增 2026-08-14 条目, UART2 RX DMA 方案列入待办

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/loop_uart_proto.h

@@ -7,7 +7,7 @@
  * @brief   DLD960Loop 串口通信协议 (7F) — CH32V208 ↔ DLD960Loop MCU
  *
  *  帧格式: 7F | Addr | LEN | CMD | Data... | XOR | SUM
- *  UART:  USART2, 115200bps, PA2(Tx)/PA3(Rx)
+ *  UART:  USART2, 192000bps, PA2(Tx)/PA3(Rx)
  *
  *  该协议是通信MCU(CH32V208)与地感MCU(DLD960Loop/AT32F421)之间的接口。
  *  网络接口(TCP JSON/5960)通过本模块向地感MCU下发命令并获取数据。

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/loop_uart_proto.c

@@ -688,7 +688,7 @@ void lup_process_frame(const uint8_t *pkg, uint16_t len)
 
     // Debug: print raw (2026-08-13: 缓冲一次性输出 — 逐字节 PRINT 关中断 ~350us/字节
     // 会屏蔽 UART2 ISR 丢帧, 且高频打印放大 printf 重入窗口。
-    // 再关闭: 190B 打印 @256000 = 7.4ms 关中断 → UART2(19200) 溢出丢字节 → 粘帧!
+    // 再关闭: 190B 打印 @256000 = 7.4ms 关中断 → UART2(192000) 溢出丢字节 → 粘帧!
     // 需要调试时打开 #if 1)
 #if 0
     {

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/peripheral_main.c

@@ -218,75 +218,6 @@ void key_event_srv(void){
 }
 
 
-/*********************************************************************
- * @fn      sim_snap_spi
- *
- * @brief   实验(2026-08-13 第一步): 模拟快照区 SPI 写密度
- *
- *          当前固件: snap_init 已 #if 0 跳过 (纯读基座, 日志读写正常)。
- *          本函数恢复快照落盘的写节奏, 隔离"SPI 写频率" vs "快照逻辑 bug":
- *          - 每 20ms: 64B 页写 (SPI_Flash_Write_NoCheck, 模拟 snap_write_raw)
- *          - 每 64 条: 切扇区序列 (读首条 magic + 擦除 45ms +
- *                      头区 SPI_Flash_Write 读-改-写整扇区, 模拟 snap_flush_head)
- *          复现复位 → SPI 高频写触发硬件问题 (PA7/NRST 共线怀疑坐实);
- *          不复现 → 快照区有具体逻辑 bug, 转向代码审查。
- *          注意: 会覆盖快照区旧数据, 恢复快照功能前需 snap_clear。
- *
- * @return  none
- */
-#define SIM_SNAP_HEAD_BASE  0x110000UL
-#define SIM_SNAP_DATA_BASE  0x111000UL
-#define SIM_SNAP_DATA_SIZE  (4096UL * 751UL)   /* 与 snapshot.c 数据扇区数一致 */
-static uint32_t _sim_snap_wr   = SIM_SNAP_DATA_BASE;
-static uint32_t _sim_snap_cnt  = 0;
-static uint32_t _sim_snap_last = 0;
-void sim_snap_spi(void)
-{
-    uint32_t _now = mstick();
-
-    if ((uint32_t)(_now - _sim_snap_last) < 20) return;   /* 20ms 节拍 = 50Hz 帧率 */
-    _sim_snap_last = _now;
-
-    /* 切扇区: 每 64 条 (4096/64) 一次, 与 snap_write_raw 同节奏 */
-    if (_sim_snap_cnt > 0 && (_sim_snap_cnt & 63) == 0)
-    {
-        uint8_t _r[64];
-        uint8_t _h[32];
-
-        /* 1) snap_sector_has_data: 读目标扇区首条 magic */
-        SPI_Flash_Read(_r, _sim_snap_wr, 64);
-
-        /* 2) SPI_Flash_Erase_Sector (~45ms) */
-        SPI_Flash_Erase_Sector(_sim_snap_wr / 4096);
-
-        /* 3) snap_flush_head: 头区读-改-写 (SPI_Flash_Write 内部
-              读4096 + 擦 + 写回4096, ~100ms) */
-        memset(_h, 0xFF, sizeof(_h));
-        _h[0] = 'S'; _h[1] = 'N'; _h[2] = 'P'; _h[3] = 'M';
-        _h[8]  = (uint8_t)(_sim_snap_cnt & 0xFF);
-        _h[9]  = (uint8_t)((_sim_snap_cnt >> 8) & 0xFF);
-        _h[10] = (uint8_t)((_sim_snap_cnt >> 16) & 0xFF);
-        _h[11] = (uint8_t)((_sim_snap_cnt >> 24) & 0xFF);
-        SPI_Flash_Write(_h, SIM_SNAP_HEAD_BASE, 32);
-    }
-
-    /* 模拟 snap_write_raw: 64B 页写 */
-    {
-        static uint8_t _b[64];
-        uint8_t _i;
-        for (_i = 0; _i < 64; _i++) _b[_i] = (uint8_t)(_sim_snap_cnt + _i);
-        _b[0] = 'S'; _b[1] = 'N'; _b[2] = 'P'; _b[3] = 'M';
-        SPI_Flash_Write_NoCheck(_b, _sim_snap_wr, 64);
-        _sim_snap_wr += 64;
-        if (_sim_snap_wr >= SIM_SNAP_DATA_BASE + SIM_SNAP_DATA_SIZE)
-            _sim_snap_wr = SIM_SNAP_DATA_BASE;
-        _sim_snap_cnt++;
-        if ((_sim_snap_cnt & 0x3F) == 0)
-            PRINT("SIM: cnt=%lu wr=0x%08lx\n",
-                  (unsigned long)_sim_snap_cnt, (unsigned long)_sim_snap_wr);
-    }
-}
-
 /*********************************************************************
  * @fn      Main_Circulation
  *
@@ -343,8 +274,6 @@ void Main_Circulation(void)
         uart_srv();
         FAULT_MARKER(MK_UART_SRV_OUT);
         snap_flush();   /* 快照落盘: 无条件挂主循环 (原在 iot_enable 分支, TCP 模式不落盘) */
-        FAULT_MARKER(MK_SIM_SPI_IN);
-        sim_snap_spi(); /* 实验第一步(2026-08-13): 模拟快照区 SPI 写密度, 定位复位触发源 */
         FAULT_MARKER(MK_POLL_BLE_IN);
         poll_dbn_ble();
 
@@ -398,26 +327,14 @@ int main(void)
     PRINT("INIT: storage ok\n");
     offlog_init();
     PRINT("INIT: offlog ok\n");
-    /* ===== 实验: 跳过 snap_init (2026-08-12) =====
+    /* 快照区: 上电扫描恢复 (2026-08-14, printf 重入修复后恢复启用) */
-       目的: SPI 序列还原为旧固件(无快照SPI), 区分触发源
-       稳定 → 快照SPI(读/擦/写头)触发; 崩 → offlog_boot本身(旧固件也该崩) */
-#if 0
     snap_init();
     PRINT("INIT: snap ok\n");
-#else
-    PRINT("INIT: snap skipped (offlog-only SPI seq)\n");
-#endif
 
-    /* ===== 实验: 跳过 offlog_boot SPI 写 (2026-08-12) =====
+    /* offlog_boot: 记录本次复位原因到事件日志 (2026-08-14 恢复) */
-       目的: 二分定位 — 跳过 snap 仍崩 → 是否是 offlog_boot 32B 写触发
-       不崩 → offlog_boot 写(含切扇区擦除)触发; 崩 → 更早 SPI 读操作或非SPI */
     {
         uint32_t rcc_rst = OFFLOG_RCC_RSTSCKR;
-#if 0
         offlog_boot(rcc_rst);
-#else
-        PRINT("SKIP: offlog_boot write skipped\n");
-#endif
         OFFLOG_RCC_RSTSCKR |= OFFLOG_RST_RMVF;   /* RMVF (bit24): 清复位标志 */
     }
 

vd960DBN/docs/devlog.md

@@ -6,6 +6,35 @@
 
 ---
 
+## 2026-08-14 — 快照区功能恢复启用 + UART2 波特率澄清
+
+### 背景
+printf 重入复位问题已确诊修复（2026-08-13，SPI 写无罪）。实验遗留的隔离代码收尾：快照区恢复启用、模拟写密度的 `sim_snap_spi` 实验桩移除。
+
+### 变更
+| 文件 | 变更 |
+|------|------|
+| `peripheral_main.c` | `snap_init()` 恢复（去 #if 0）；`offlog_boot()` 恢复（上电复位原因记入事件日志）；删除 `sim_snap_spi` 实验函数 + 主循环调用 |
+| `loop_uart_proto.h` | 注释 UART2 波特率 115200 → 192000 |
+| `loop_uart_proto.c` | 注释 UART2(19200) → UART2(192000) |
+| `snapshot.c/h` | 无需改动（2026-08-12 已实现：环形 64B SnapRec、懒擦、掉电恢复、BLE 0x28/0x29/0x2A） |
+
+### UART2 波特率澄清
+- **UART2（Loop MCU 口）实际波特率 = 192000**，`usart_biz.c` 硬编码；协议文档写 115200 已过时，以代码为准
+- `g_storage_uart_baud = 19200`（peripheral_main.c）是**独立配置项**（BLE 可读可改 + flash 存储），不驱动 UART2 波特率——BLE 小程序看到 19200 不代表 UART2 实际速率
+- **后续规划：UART2 RX 改 DMA/双缓冲**，解决偶发丢帧（1-3 分钟一次 checksum fail）
+
+### 验证
+- `tests/test_snapshot.c` 9 用例 ALL PASS（gcc 隔离单测）
+- `check_c_balance.py` 3 文件 OK
+- 板级待办：上电 `INIT: snap ok`、BLE 0x28/0x29/0x2A 查询、断网期间快照落盘
+
+### 遗留
+- [ ] UART2 RX DMA 方案落地（防丢帧）
+- [ ] 板级验证快照 BLE 查询命令
+
+---
+
 ## 2026-08-13 — 复位/卡死全链路诊断闭环：printf 重入 + 回调卡死 + UART2 丢字节
 
 ### 现场症状（多轮）
@@ -27,7 +56,7 @@
 2. json_sensor_callback enter PRINT: printf 处理 %d %d %d 死循环
    (LUP Rx %s 打印成功, enter %d 打印卡死) → 主循环永久卡死
 3. UART2 丢字节: LUP Rx 打印 190B @256000 = 7.4ms 关中断 (PRINT 临界区)
-   → UART2(19200) RX 溢出丢字节 → 帧解析错位 → 粘帧 → checksum fail
+   → UART2(192000) RX 溢出丢字节 → 帧解析错位 → 粘帧 → checksum fail
    + g_pkg_uart_2.flag 清理缺失 → 坏帧反复处理 → fail 刷屏
 ```
 
@@ -53,11 +82,11 @@
 
 ### 遗留待办
 
-- [ ] UART2 偶发丢帧（1-3 分钟一次 checksum fail）：波特率 19200→115200（需 Loop MCU 配合）或 RX 改 DMA/双缓冲
+- [ ] UART2 偶发丢帧（1-3 分钟一次 checksum fail）：RX 改 DMA/双缓冲（波特率已确认 192000，非 19200）
 - [ ] json_sensor_callback enter PRINT 的 printf %d 卡死根因（newlib lock / UART1 TC 轮询）——已注释规避，恢复前需查明
 - [ ] IWDG 卡死时未在 4s 复位：LSI 频率偏差 or 配置问题
 - [ ] `g_lup_sensor_cb` 单回调竞争：iot_evt_sensor_cb 与 json_sensor_callback 后注册覆盖先注册，事件沿检测可能被跳过（需多回调或合并）
-- [ ] 恢复快照区功能：`snap_init` 取消 `#if 0`、移除 `sim_snap_spi` 模拟实验，验证 BLE 0x28/0x29/0x2A 查询
+- [x] 恢复快照区功能（2026-08-14）：`snap_init` 已恢复、`sim_snap_spi` 已移除，待板级验证 BLE 0x28/0x29/0x2A 查询
 
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