feat(vd960DBN): 事件日志区动态分区 — JEDEC ID 选档 (ROADMAP 落地)

- offlog.h: OfflogPart 运行时分区表 + g_offlog_part; AREA_BASE 改 0x090000
  (参数64KB+OTA512KB); 容量宏展开为运行时值(主体零改动)
- offlog.c: offlog_part_detect() 读 JEDEC ID → 事件区容量
  W25Q32=512KB/16256条, Q64=1MB/32640, Q128=2MB/65408, Q256=4MB/130944
- storage.c/h: SPI_Flash_ReadJEDEC_ID() (0x9F, 校验 EF 40)
- 旧固件事件区 0x010000 自动废弃(新地址无 magic → 重建), 预期行为
- 测试: mock JEDEC=0x16 + g_offlog_part, 15 例全过
- 文档: BLE/MQTT/TCP 协议 capacity 8064→动态, 交互示例, devlog

vd960DBN/tests/test_ble_offlog.c

@@ -78,6 +78,9 @@ int offlog_read_idx(uint16_t idx, OfflogEvt *out)
     return 0;
 }
 
+/* g_offlog_part: OFFLOG_MAX_RECORDS 宏展开为运行时值, 此处 mock W25Q32 (512KB) */
+OfflogPart g_offlog_part = { OFFLOG_CHIP_W25Q32, 0x80000UL, 127, 16256 };
+
 /* ============ set_response_buf mock: 只记录调用参数 ============ */
 static uint8_t last_cmd = 0;
 static uint8_t last_len = 0;
@@ -125,8 +128,8 @@ static void test_stat_ok(void)
     CHECK(last_dat[1] == 0x02 && last_dat[2] == 0x00);
     /* count=1234 LE */
     CHECK(last_dat[3] == 0xD2 && last_dat[4] == 0x04 && last_dat[5] == 0x00 && last_dat[6] == 0x00);
-    /* capacity=8064 LE */
-    CHECK(last_dat[7] == 0x80 && last_dat[8] == 0x1F && last_dat[9] == 0x00 && last_dat[10] == 0x00);
+    /* capacity=16256 LE (W25Q32 512KB: 127 数据扇区 x 128) */
+    CHECK(last_dat[7] == 0x80 && last_dat[8] == 0x3F && last_dat[9] == 0x00 && last_dat[10] == 0x00);
     /* seq_first=100 LE */
     CHECK(last_dat[11] == 0x64 && last_dat[12] == 0x00 && last_dat[13] == 0x00 && last_dat[14] == 0x00);
     /* seq_last=1333 LE */

vd960DBN/tests/test_offlog.c

@@ -32,6 +32,8 @@ void SPI_Flash_Write_NoCheck(uint8_t *buf, uint32_t addr, uint16_t size)
     for (i = 0; i < size; i++) flash[addr + i] &= buf[i];   /* NOR: 只能 1→0 */
 }
 
+uint8_t SPI_Flash_ReadJEDEC_ID(void) { return 0x16; }   /* mock W25Q32 */
+
 void SPI_Flash_Write(uint8_t *buf, uint32_t addr, uint16_t size)
 {
     /* 模拟 storage.c 行为: 目标区域非全 FF 则擦整扇区再写 */