feat(vd960DBN): 事件日志区动态分区 — JEDEC ID 选档 (ROADMAP 落地)

- offlog.h: OfflogPart 运行时分区表 + g_offlog_part; AREA_BASE 改 0x090000
  (参数64KB+OTA512KB); 容量宏展开为运行时值(主体零改动)
- offlog.c: offlog_part_detect() 读 JEDEC ID → 事件区容量
  W25Q32=512KB/16256条, Q64=1MB/32640, Q128=2MB/65408, Q256=4MB/130944
- storage.c/h: SPI_Flash_ReadJEDEC_ID() (0x9F, 校验 EF 40)
- 旧固件事件区 0x010000 自动废弃(新地址无 magic → 重建), 预期行为
- 测试: mock JEDEC=0x16 + g_offlog_part, 15 例全过
- 文档: BLE/MQTT/TCP 协议 capacity 8064→动态, 交互示例, devlog

docs/DLD960_BLE协议.md

@@ -60,16 +60,16 @@ Magic  |     Header       |  Data  |   CheckByte
 | 1 | 2 | `boot_seq` | 当前启动序号（每次上电 +1，区分复位段） |
 | 3 | 4 | `count` | 有效记录条数（0~8064，环形覆盖后 < capacity） |
 | 7 | 4 | `capacity` | 容量上限（8064） |
-| 11 | 4 | `seq_first` | 逻辑首条记录全局序号（`seq_last - count + 1`，count=0 时为 0） |
+| 3 | 4 | `count` | 有效记录条数（0~capacity，环形覆盖后 < capacity） |
-| 15 | 4 | `seq_last` | 最新一条记录全局序号（跨 boot 单调递增） |
+| 7 | 4 | `capacity` | 容量上限（**随存储芯片动态**：W25Q32=16256 / W25Q64=32640 / W25Q128=65408 / W25Q256=130944） |
 
-示例（boot_seq=2, count=1234, capacity=8064, seq_first=100, seq_last=1333）：
+示例（boot_seq=2, count=1234, capacity=16256, seq_first=100, seq_last=1333）：
 
 ```
-8F 00 14 25 00 02 00 D2 04 00 00 00 80 1F 00 00 00 64 00 00 00 35 05 00 00 00 XX XX
+8F 00 14 25 00 02 00 D2 04 00 00 00 80 3F 00 00 00 64 00 00 00 35 05 00 00 00 XX XX
    -- -- -- -- -------------------- -------------------- -------------------- -----
-   |  |  |  |  status           count=1234        capacity=8064      seq_first=100
+   |  |  |  |  status           count=1234      capacity=16256      seq_first=100
-   |  |  |  cmd=0x25            boot_seq=2                                              seq_last=1333
+   |  |  |  |  cmd=0x25            boot_seq=2                                              seq_last=1333
 ```
 
 ---

docs/DLD960_BLE日志查询交互.md

@@ -78,7 +78,7 @@ Magic  |     Header       |  Data  |   CheckByte
 | 0 | 1 | `status` | `00` | OK |
 | 1 | 2 | `boot_seq` | 待补（需原始 hex） | 启动序号 |
 | 3 | 4 | `count` | `A2 00 00 00` = 162 | 有效记录条数 |
-| 7 | 4 | `capacity` | `80 1F 00 00` = 8064 | 容量上限 |
+| 7 | 4 | `capacity` | `80 3F 00 00` = 16256（W25Q32 512KB：127 数据扇区 × 128 条） | 容量上限 |
 | 11 | 4 | `seq_first` | `01 00 00 00` = 1 | 逻辑首条全局序号 |
 | 15 | 4 | `seq_last` | `A2 00 00 00` = 162 | 最新全局序号 |
 

docs/DLD960_IoT_MQTT协议.md

@@ -651,7 +651,7 @@ dld960/{dev_serial}/{direction}
 ## 4.16 查询脱机事件日志统计 `log_stat`
 
 > Topic: `dld960/{sn}/srv`
-> 设备本地 W25Q32 环形事件日志（256KB / 8064 条，掉电不丢）。用于日志拉取前的分页定位。
+> 设备本地 W25Qxx 环形事件日志（事件区动态：W25Q32=512KB/16256 条，掉电不丢）。用于日志拉取前的分页定位。
 
 **请求：**
 
@@ -672,7 +672,7 @@ dld960/{dev_serial}/{direction}
   "enabled": true,
   "boot_seq": 2,
   "count": 1234,
-  "capacity": 8064,
+  "capacity": 16256,
   "seq_first": 100,
   "seq_last": 1333
 }
@@ -683,8 +683,8 @@ dld960/{dev_serial}/{direction}
 | `stream` | string | 日志流，当前仅 `event`（快照流预留） |
 | `enabled` | bool | 日志功能是否启用（Flash 初始化成功） |
 | `boot_seq` | uint16 | 当前启动序号（每次上电 +1，区分复位段） |
-| `count` | uint16 | 有效记录条数（0~8064，环形覆盖后 < capacity） |
+| `count` | uint16 | 有效记录条数（0~capacity，环形覆盖后 < capacity） |
-| `capacity` | uint16 | 容量上限（8064） |
+| `capacity` | uint16 | 容量上限（**随存储芯片动态**：W25Q32=16256 / W25Q64=32640 / W25Q128=65408 / W25Q256=130944） |
 | `seq_first` | uint32 | 逻辑首条记录全局序号（`seq_last - count + 1`） |
 | `seq_last` | uint32 | 最新一条记录全局序号（跨 boot 单调递增） |
 

docs/DLD960_TCP_JSON协议.md

@@ -347,7 +347,7 @@ Client                          Device (DLD960)
 
 ## 4.16 查询脱机事件日志统计 `log_stat`
 
-> 设备本地 W25Q32 环形事件日志（256KB / 8064 条，掉电不丢）。用于日志拉取前的分页定位。
+> 设备本地 W25Qxx 环形事件日志（事件区动态：W25Q32=512KB/16256 条，掉电不丢）。用于日志拉取前的分页定位。
 
 **请求：**
 
@@ -358,7 +358,7 @@ Client                          Device (DLD960)
 **响应 data：**
 
 ```json
-{"stream":"event","enabled":true,"boot_seq":2,"count":1234,"capacity":8064,"seq_first":100,"seq_last":1333}
+{"stream":"event","enabled":true,"boot_seq":2,"count":1234,"capacity":16256,"seq_first":100,"seq_last":1333}
 ```
 
 | data 字段 | 类型 | 说明 |
@@ -366,8 +366,8 @@ Client                          Device (DLD960)
 | `stream` | string | 日志流，当前仅 `event`（快照流预留） |
 | `enabled` | bool | 日志功能是否启用（Flash 初始化成功） |
 | `boot_seq` | uint16 | 当前启动序号（每次上电 +1，区分复位段） |
-| `count` | uint16 | 有效记录条数（0~8064） |
+| `count` | uint16 | 有效记录条数（0~capacity） |
-| `capacity` | uint16 | 容量上限（8064） |
+| `capacity` | uint16 | 容量上限（**随存储芯片动态**：W25Q32=16256 / W25Q64=32640 / W25Q128=65408 / W25Q256=130944） |
 | `seq_first` | uint32 | 逻辑首条记录全局序号（`seq_last - count + 1`） |
 | `seq_last` | uint32 | 最新一条记录全局序号（跨 boot 单调递增） |
 

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/offlog.h

@@ -4,18 +4,19 @@
  * @author  wfq
  * @version V1.0
  * @date    2026-08-04
- * @brief   DBN 脱机事件日志 (W25Q32 外部 SPI NOR, 环形)
+ * @brief   DBN 脱机事件日志 (W25Qxx 外部 SPI NOR, 环形)
  *
  *  目的: 解决"平台重复上线/异常重启但现场无日志"的取证问题。
  *  区分「设备真复位」vs「MQTT 断连重连」(两者都会导致平台重收 initialize):
  *    - 真复位: 会有 OFFLOG_EVT_BOOT 事件, boot_seq 递增
  *    - 断连重连: boot_seq 不变, 只有 IOT_* 网络事件
  *
- *  分区 (W25Q32, 4MB):
+ *  分区 (2026-08-12 ROADMAP 新规划):
- *    | 参数区  0x000000  64KB (现有配置, 不动)
+ *    | 参数区  0x000000  64KB (固定)
- *    | 事件区  0x010000  256KB = 扇区 16..79 (头扇区 + 63 数据扇区)
+ *    | OTA 区  0x010000  512KB (固定)
- *    | OTA 区  0x050000  512KB (预留)
+ *    | 事件区  0x090000  动态: W25Q32=512KB / Q64=1MB / Q128=2MB / Q256=4MB
- *    | 快照区  0x0D0000  ~3.25MB (预留, 后续)
+ *    | 快照区  事件区后  剩余容量 (预留, 后续)
+ *  上电读 JEDEC ID (0x9F) 决定事件区容量 (g_offlog_part 运行时分区表)
  *
  *  环形实现:
  *    - 扇区 0 (区内) = 头扇区, 存元数据 (boot_seq/写位置/条数), 扇区切换时更新
@@ -37,15 +38,35 @@
 /*===========================================================================
  * 分区与容量
  *===========================================================================*/
-#define OFFLOG_AREA_BASE        0x010000UL      /* 事件日志区起始 (绝对地址)   */
+/* 固定分区 (ROADMAP 2026-08-12): 参数区 64KB + OTA 512KB, 事件区紧随其后 */
-#define OFFLOG_AREA_SIZE        0x040000UL      /* 256KB                       */
+#define OFFLOG_PARAM_SIZE       0x10000UL       /* 参数区 64KB (固定)          */
+#define OFFLOG_OTA_SIZE         0x80000UL       /* OTA 镜像暂存 512KB (固定)   */
+#define OFFLOG_AREA_BASE        (OFFLOG_PARAM_SIZE + OFFLOG_OTA_SIZE)  /* 0x090000 */
+
 #define OFFLOG_HEAD_SECTOR      0               /* 区内扇区号: 头扇区          */
-#define OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT  63              /* 数据扇区数 (1..63)          */
 #define OFFLOG_EVT_PER_SECTOR   128             /* 4096 / 32                   */
 
-#define OFFLOG_DATA_BASE        (OFFLOG_AREA_BASE + 4096)
+/* 芯片 JEDEC ID (0x9F 命令第 3 字节, EF 40 xx) */
-#define OFFLOG_DATA_SIZE        (OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT * 4096)
+#define OFFLOG_CHIP_W25Q32      0x16
-#define OFFLOG_MAX_RECORDS      (OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT * OFFLOG_EVT_PER_SECTOR)  /* 8064 */
+#define OFFLOG_CHIP_W25Q64      0x17
+#define OFFLOG_CHIP_W25Q128     0x18
+#define OFFLOG_CHIP_W25Q256     0x19
+
+/* 运行时分区表 (offlog_init 由 JEDEC ID 填充; 默认 W25Q32) */
+typedef struct {
+    uint8_t  chip;              /* OFFLOG_CHIP_xxx                       */
+    uint32_t area_size;         /* 事件日志区大小                        */
+    uint32_t data_sectors;      /* 数据扇区数 (不含头扇区)                */
+    uint32_t max_records;       /* 最大记录数 = data_sectors * 128       */
+} OfflogPart;
+extern OfflogPart g_offlog_part;
+
+/* 兼容宏: 展开为运行时值 (offlog.c 主体引用不变) */
+#define OFFLOG_AREA_SIZE        (g_offlog_part.area_size)
+#define OFFLOG_DATA_SECTOR_CNT  (g_offlog_part.data_sectors)
+#define OFFLOG_DATA_SIZE        ((g_offlog_part.data_sectors) * 4096UL)
+#define OFFLOG_MAX_RECORDS      (g_offlog_part.max_records)
+#define OFFLOG_DATA_BASE        (OFFLOG_AREA_BASE + 4096UL)
 
 /* 头扇区记录 (32B, 扇区切换时更新) */
 typedef struct {
@@ -54,7 +75,7 @@ typedef struct {
     uint32_t wr_sector;         /* 上次写扇区号 (区内 1..63)                */
     uint32_t wr_off;            /* 上次写偏移 (相对 OFFLOG_AREA_BASE)       */
     uint32_t wr_seq;            /* 下一条记录全局 seq (掉电恢复锚点)         */
-    uint32_t count;             /* 有效记录数 (0..8064)                     */
+    uint32_t count;             /* 有效记录数 (0..max_records)               */
     uint32_t rsvd[2];
 } OfflogHead;                   /* 28B, 按 32B 对齐使用                     */
 

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/storage.h

@@ -36,5 +36,6 @@ void SPI_Flash_Write_NoCheck(uint8_t *pBuffer, uint32_t WriteAddr, uint16_t size
 void SPI_Flash_Erase_Sector(uint32_t Dst_Addr);
 
 void storage_init(void);
+uint8_t SPI_Flash_ReadJEDEC_ID(void);   /* 0x9F JEDEC device id (W25Q32=0x16...) */
 
 #endif

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/offlog.c

@@ -28,9 +28,39 @@ static uint32_t _wr_off;        /* 下一条记录写入的绝对地址
 static uint16_t _wr_sector;     /* 当前写扇区号 (区内 1..63)             */
 static uint32_t _wr_seq;        /* 下一条记录的全局 seq                  */
 static uint16_t _boot_seq;      /* 当前 boot 序号                        */
-static uint32_t _count;         /* 有效记录数 (0..8064)                  */
+static uint32_t _count;         /* 有效记录数 (0..max_records)           */
 static uint8_t  _ready;         /* init 完成标志                         */
 
+/*===========================================================================
+ * 运行时分区表 (ROADMAP 2026-08-12: 上电读 JEDEC ID 决定事件区容量)
+ *===========================================================================*/
+OfflogPart g_offlog_part = {
+    OFFLOG_CHIP_W25Q32,        /* 默认 */
+    0x80000UL,                 /* 512KB */
+    127,                       /* (512KB/4096) - 1 头扇区 */
+    16256,                     /* 127 * 128 */
+};
+
+/* 读 JEDEC ID → 填分区表。未知芯片按 W25Q32 兜底 (与 storage_init 打印对照) */
+static void offlog_part_detect(void)
+{
+    uint8_t  dev  = SPI_Flash_ReadJEDEC_ID();
+    uint32_t size = 0x80000UL;
+    uint8_t  chip = OFFLOG_CHIP_W25Q32;
+
+    switch (dev) {
+        case OFFLOG_CHIP_W25Q32:  size = 0x80000UL;  break;  /* 512KB  */
+        case OFFLOG_CHIP_W25Q64:  size = 0x100000UL; break;  /* 1MB    */
+        case OFFLOG_CHIP_W25Q128: size = 0x200000UL; break;  /* 2MB    */
+        case OFFLOG_CHIP_W25Q256: size = 0x400000UL; break;  /* 4MB    */
+        default:                  chip = OFFLOG_CHIP_W25Q32; break; /* 未知→默认 */
+    }
+    g_offlog_part.chip         = chip;
+    g_offlog_part.area_size    = size;
+    g_offlog_part.data_sectors = (size / 4096UL) - 1;
+    g_offlog_part.max_records  = g_offlog_part.data_sectors * OFFLOG_EVT_PER_SECTOR;
+}
+
 /*===========================================================================
  * 基础读写
  *===========================================================================*/
@@ -106,6 +136,7 @@ void offlog_init(void)
 {
     OfflogHead h;
 
+    offlog_part_detect();       /* JEDEC ID → 事件区容量 (W25Q32/Q64/Q128/Q256) */
     memset(&h, 0xFF, sizeof(h));
     offlog_head_read(&h);
 

vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/storage.c

@@ -225,6 +225,30 @@ u16 SPI_Flash_ReadID(void)
 }
 
 
+/*********************************************************************
+ * @fn      SPI_Flash_ReadJEDEC_ID
+ *
+ * @brief   Read JEDEC ID (0x9F). Return 3rd byte (device id).
+ *          W25Q32=0x16 Q64=0x17 Q128=0x18 Q256=0x19; 0 if not Winbond.
+ *
+ * @return  device id byte
+ */
+uint8_t SPI_Flash_ReadJEDEC_ID(void)
+{
+    uint8_t id[3] = {0, 0, 0};
+
+    GPIO_WriteBit(GPIOA, GPIO_Pin_4, 0);
+    SPI1_ReadWriteByte(W25X_JedecDeviceID);
+    id[0] = SPI1_ReadWriteByte(0xFF);
+    id[1] = SPI1_ReadWriteByte(0xFF);
+    id[2] = SPI1_ReadWriteByte(0xFF);
+    GPIO_WriteBit(GPIOA, GPIO_Pin_4, 1);
+
+    if (id[0] != 0xEF || id[1] != 0x40) return 0;
+    return id[2];
+}
+
+
 /*********************************************************************
  * @fn      SPI_Flash_Erase_Sector
  *

vd960DBN/docs/devlog.md

@@ -112,6 +112,51 @@ static void performPeriodicTask(void)
 
 ---
 
+## 2026-08-12 — 事件日志区动态分区（ROADMAP 落地：JEDEC ID 选档）
+
+### 背景
+
+ROADMAP P1.2 更新：分区顺序调整为 **参数区 → OTA 镜像暂存区 → 事件日志区 → 传感快照区**；事件日志区容量随存储芯片动态（W25Q32=512KB / Q64=1MB / Q128=2MB / Q256=4MB），上电读 JEDEC ID 选档。移除 W25Q80 支持。
+
+### 代码改动
+
+| 文件 | 改动 |
+|------|------|
+| `offlog.h` | 新增 `OfflogPart` 运行时分区表 + `g_offlog_part`；`OFFLOG_AREA_BASE` 改 0x090000（参数64KB+OTA512KB）；`OFFLOG_AREA_SIZE/DATA_SECTOR_CNT/MAX_RECORDS/DATA_SIZE` 宏改为展开运行时值（主体零改动）；新增 `OFFLOG_CHIP_W25Q32/64/128/256` JEDEC ID 宏 |
+| `offlog.c` | 定义 `g_offlog_part`（默认 W25Q32 512KB/16256条）；新增 `offlog_part_detect()`（读 JEDEC ID → 填表，未知按 W25Q32 兜底）；`offlog_init` 开头调用 |
+| `storage.c` | 新增 `SPI_Flash_ReadJEDEC_ID()`（0x9F 读 3 字节，校验 EF 40，返回 device id） |
+| `storage.h` | 声明 |
+
+> 注：offlog.h/c 是 **UTF-8**（2026-08-04 新建），storage.c 是 **GBK**——改造按各自编码精确替换，未破坏。
+
+### 容量对照
+
+| 芯片 | JEDEC | 事件区 | 数据扇区 | max_records | capacity LE |
+|------|-------|--------|---------|-------------|-------------|
+| W25Q32（默认） | 0x16 | 512KB | 127 | 16256 | `80 3F 00 00` |
+| W25Q64 | 0x17 | 1MB | 255 | 32640 | `80 7F 00 00` |
+| W25Q128 | 0x18 | 2MB | 511 | 65408 | `80 FF 00 00` |
+| W25Q256 | 0x19 | 4MB | 1023 | 130944 | `80 FF 01 00` |
+
+### 兼容性
+
+- 旧固件事件区在 0x010000（256KB），新固件在 0x090000——**旧日志数据不会误读**（新地址头扇区无 magic → 视为全新区自动重建），属预期行为
+- `offlog_init` 在 `storage_init` 之后调用（peripheral_main.c:305-306），SPI 已就绪
+
+### 文档同步
+
+- `DLD960_BLE协议.md` / `DLD960_IoT_MQTT协议.md` / `DLD960_TCP_JSON协议.md`：capacity 字段 8064 → 动态（含四芯片对照）
+- `DLD960_BLE日志查询交互.md`：STAT 示例 capacity 更新
+- `ROADMAP.md`：P1.2 分区规划（前序提交）
+
+### 验证
+
+- `tests/test_offlog.c`：mock JEDEC=0x16，8 例全过（环形回绕自动适配 16256）
+- `tests/test_ble_offlog.c`：mock `g_offlog_part`，capacity 断言 16256，7 例全过
+- 地址范围模拟：四芯片事件区 0x090000 起均不超芯片容量
+
+---
+
 ## 2026-08-12 — 续2：第二分包丢失 — 根因确认（响应缓冲越界踩踏 g_notify_buftemp）
 
 ### 破案过程（三份现场日志 + .map 对照）

vd960DBN/tests/test_ble_offlog.c

@@ -78,6 +78,9 @@ int offlog_read_idx(uint16_t idx, OfflogEvt *out)
     return 0;
 }
 
+/* g_offlog_part: OFFLOG_MAX_RECORDS 宏展开为运行时值, 此处 mock W25Q32 (512KB) */
+OfflogPart g_offlog_part = { OFFLOG_CHIP_W25Q32, 0x80000UL, 127, 16256 };
+
 /* ============ set_response_buf mock: 只记录调用参数 ============ */
 static uint8_t last_cmd = 0;
 static uint8_t last_len = 0;
@@ -125,8 +128,8 @@ static void test_stat_ok(void)
     CHECK(last_dat[1] == 0x02 && last_dat[2] == 0x00);
     /* count=1234 LE */
     CHECK(last_dat[3] == 0xD2 && last_dat[4] == 0x04 && last_dat[5] == 0x00 && last_dat[6] == 0x00);
-    /* capacity=8064 LE */
+    /* capacity=16256 LE (W25Q32 512KB: 127 数据扇区 x 128) */
-    CHECK(last_dat[7] == 0x80 && last_dat[8] == 0x1F && last_dat[9] == 0x00 && last_dat[10] == 0x00);
+    CHECK(last_dat[7] == 0x80 && last_dat[8] == 0x3F && last_dat[9] == 0x00 && last_dat[10] == 0x00);
     /* seq_first=100 LE */
     CHECK(last_dat[11] == 0x64 && last_dat[12] == 0x00 && last_dat[13] == 0x00 && last_dat[14] == 0x00);
     /* seq_last=1333 LE */

vd960DBN/tests/test_offlog.c

@@ -32,6 +32,8 @@ void SPI_Flash_Write_NoCheck(uint8_t *buf, uint32_t addr, uint16_t size)
     for (i = 0; i < size; i++) flash[addr + i] &= buf[i];   /* NOR: 只能 1→0 */
 }
 
+uint8_t SPI_Flash_ReadJEDEC_ID(void) { return 0x16; }   /* mock W25Q32 */
+
 void SPI_Flash_Write(uint8_t *buf, uint32_t addr, uint16_t size)
 {
     /* 模拟 storage.c 行为: 目标区域非全 FF 则擦整扇区再写 */