feat(vd960DBN): 脱机事件日志系统 (W25Q32 环形) — 解决重复上线取证 · ac3fb512d5 - vd_960

feat(vd960DBN): 脱机事件日志系统 (W25Q32 环形) — 解决重复上线取证

背景: 设备挂平台测试出现重复上线(现场未断电), 无本地日志无法区分
设备真复位 vs MQTT 断连重连。iot_handle_suback 每次重连都发
initialize 是重复上线的直接证据, 日志需能区分二者。

实现 (V3.6, ROADMAP P1.2 事件流先行):
- offlog.c/h: W25Q32 256KB 环形事件日志 (头扇区+63数据扇区, 8064条)
  - 32B 定长记录: magic/type/len/flags/seq/ts_ms/unix_ts/boot_seq/payload[12]
  - 8 类事件: BOOT(复位原因)/IOT_CONNECT/READY/DISCONN/RECONN/
    EVT_RETRY/GIVEUP/COIL/TIME_ANCHOR/LOG_CLEAR
  - 掉电恢复: 头扇区写指针锚点 + 上电 seq 连续性扫描
  - 编译期断言防 32B padding 回归
- 插桩 (全部主循环上下文, socket 中断内不写 SPI):
  - main(): offlog_init + RCC_RSTSCKR 复位原因采集/清除
  - iot_mqtt_poll(): MQTT 状态沿检测 (CONNECT/READY/DISCONN)
  - 重连退避/TCP超时/CONNACK拒绝: RECONN/DISCONN(4)/(3)
  - iot_evt_process/enqueue: EVT_RETRY/GIVEUP/COIL
  - net_srv.c dev_time_sync: TIME_ANCHOR 时钟同步锚点
- tests/test_offlog.c: gcc 隔离单测 6 例 (mock W25Q32 NOR 语义)

关键坑: ①中断内写SPI阻塞 ②结构体36B padding致环形错乱
③扇区级覆盖粒度count扣减语义 (均单测抓出)

待办: P1.3 导出命令(log_query/stat/clear) + 快照流 + 复位原因板上验证

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wangfq

2026-08-04 15:04:12 +08:00

parent a5ac54a2bf

commit ac3fb512d5

8 changed files with 836 additions and 0 deletions

									
										vd960DBN/BLE/OnlyUpdateApp_Peripheral/APP/include/storage.h
									
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				@@ -32,6 +32,7 @@ void load_cfg_from_flash(void);

				void SPI_Flash_Read(uint8_t *pBuffer, uint32_t ReadAddr, uint16_t size);

				void SPI_Flash_Write(uint8_t *pBuffer, uint32_t WriteAddr, uint16_t size);

				void SPI_Flash_Write_NoCheck(uint8_t *pBuffer, uint32_t WriteAddr, uint16_t size);

				void storage_init(void);