wangfq 5803255d89 test(vd960DBN): 实验B — 跳过 load_cfg/output_cfg, 跑飞触发点下移 (2026-08-17) ...

实验A(跳过 offlog_boot)仍循环复位 → offlog_boot 非触发点, 跑飞点下移。
新证据: BOOT_CNT 恒=1 (.noinit 计数器每次被清) → RAM 全丢级重启,
RSTSCKR 却无复位标志 → 疑似掉电-恢复(未触发POR) 而非软件跑飞。

- load_cfg_from_flash + output_cfg_from_flash #if 0, 加 EXPB 标记
- BOOT_CNT 打印加 &g_boot_count 地址, 确认 .noinit 段是否生效
  (地址 >= _ebss≈0x2000612c 且在 .noinit → 复位不清零; 恒1 → RAM被清)

预期: 不崩 → 触发点在参数区SPI读或%s打印; 仍崩 → 触发点更晚/更早

2026-08-17 10:15:21 +08:00

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HAL

refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配

2026-06-25 16:21:57 +08:00

LIB

refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配

2026-06-25 16:21:57 +08:00

OnlyUpdateApp_IAP

refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配

2026-06-25 16:21:57 +08:00

OnlyUpdateApp_Peripheral

test(vd960DBN): 实验B — 跳过 load_cfg/output_cfg, 跑飞触发点下移 (2026-08-17)

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