fix(V4B): 方案A现场复核修正 V4.04 — RELEASE_ALFA 18→21(精确τ117ms对齐PD132T) + 进入snap消除HR0/2假释放

现场金属板复测两现象:
1. 慢速抬板释放高度 V4B 仍比 PD132T 高一点(跟手速有关) — 根因: τ对齐用了近似口径
   (α18 精确τ≈137ms vs PD132T α79@43.7ms 精确τ≈118ms, α=79时 T×256/α 高估19.6%)
   + V4B 3次确认30ms。修正: RELEASE_ALFA 18→21 (精确τ≈117ms)。
2. 定在HR0/2(释放高度一半)保持~1s V4B释放、PD132T不释放 — 根因: 双滤波进入瞬态假释放
   (快滤波30ms确认进入, 慢滤波还悬在基线附近, 残余信号0.032%~0.044%时释放条件瞬时为真)。
   修正: 进入确认瞬间 snap loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD (进入线恒深于离开线, 释放条件结构性为假)。

验证: gcc单测 τ fast=30ms/slow=120ms, 释放时机差 200ms ✓
仿真: 3s抬升高度差 +9mm→+3mm; 0.10%板HR0/2假释放消除 ✓
文档: devlog V2.13 + technical-spec §4.3.3

docs/devlog.md

@@ -4,6 +4,43 @@
 
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+## 2026-09-01 — 方案A 现场复核修正：RELEASE_ALFA 18→21 + 进入 snap（固件 V4.04）
+
+> **固件版本：V4.04**（cmcng.h：FIRMWARE_VER="4.04" + MAIN=4/SUB=4）。devlog 修订 V2.13。
+
+### 背景（现场复核）
+
+方案A（V4.03）落地后金属板复测，两个现象：
+
+1. **慢速抬板释放高度 V4B 仍比 PD132T 高一点**，且跟手速有关（抬得越慢越接近）
+2. **定在 HR0/2（释放高度一半）保持 ~1s，V4B 释放继电器，PD132T 不释放**
+
+### 根因分析
+
+| 现象 | 根因 | 证据 |
+|------|------|------|
+| 1 释放偏高 | τ 对齐用了近似口径：方案A α18 精确 τ≈137ms，PD132T α79@43.7ms 精确 τ≈118ms（α=79 时 `T×256/α` 近似公式高估 19.6%）+ V4B 释放 3 次确认 30ms | 仿真：2s 抬升 V4B +14mm、8s 抬升 +2mm，与现场"跟手速有关"吻合 |
+| 2 HR0/2 假释放 | 双滤波结构（快进+慢出）：进入由快滤波（τ≈22ms）30ms 确认，释放判定用慢滤波——进入确认瞬间慢滤波还悬在基线附近，残余信号落在窄带（SENS=3 时 0.032%~0.044%）时释放条件瞬时为真 → 3 次确认数满 → 假释放。PD132T 进出共用同一滤波，进入确认时滤波值已沉过离开线，结构性免疫 | 仿真：0.10% 板 HR0/2 放置 V4B 释放@0.18s，PD132T 不释放 |
+
+### 修正（V4.04）
+
+1. **RELEASE_ALFA 18 → 21**：精确 τ = −T/ln(1−α) = −10/ln(1−21/256) ≈ **117ms**，对齐 PD132T α79@43.7ms 精确 τ≈118ms。仿真释放高度差 3s 抬升 +9mm → **+3mm**（剩余为 3 次确认 30ms 固有延迟）
+2. **进入确认 snap**：`loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD`（进入线档3 0.032% 恒深于离开线 0.021%，snap 后释放条件结构性为假）→ HR0/2 假释放窗口彻底消除
+
+### 验证
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+- `tests/test_release_slow_filter.c` 更新 ALFA_SLOW=21：τ fast=30ms/slow=120ms（理论 22/117ms）；释放时机差 200ms ✓
+- 仿真（Origin=100000, SENS=3）：α21+snap 下 0.10% 板 HR0/2 放置，原版释放@0.18s → 未释放 ✓
+- ⚠ 待板级：真机金属板复测确认释放高度对齐 + HR0/2 保持不再释放
+
+### 文档同步
+
+- technical-spec §4.3.3 补 V4.04 修正说明
+- analysis/docs/filter-coefficient-79-vs-64.md §4.4 方案A 同步 α21 + snap
+- release-notes 待发布时更新
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+
 ## 2026-08-31 — 释放手感对齐 PD132T：释放慢滤波（方案 A，固件 V4.03）
 
 > **固件版本：V4.03**（cmcng.h：FIRMWARE_VER="4.03" + MAIN=4/SUB=3；⚠ 顺带修正字符串 "4.00" 与数字 4/2 不一致的历史问题）。devlog 修订 V2.12。

docs/technical-spec.md

@@ -276,6 +276,8 @@ if ((Origin - dlt_ORG) < CAPVD) {                // CAPVD 回升至距基线不
 
 > **⚠ V4.03（2026-08-31）释放慢滤波（方案 A，USE_SLOW_RELEASE）**：现场金属板测试——灵敏度表已对齐，但**释放高度 V4B 比 PD132T 低**（V4B 刚离开触发位置即释放，PD132T 需离得更远）。根因：**IIR 滤波时间常数差异**（V4B 10ms tick + α79 → τ≈32ms；PD132T 43.7ms tick + α79/64 → τ≈142~175ms，慢 4.4~5.5×），释放阈值浅（进入的 20%）放大差异。修复：离开判定改用**独立慢滤波值** `loop1_CAPVD_slow`（α=18/256 @10ms → τ≈142ms，复刻 PD132T 恢复速度，吃原始 Value 不经斜率限幅），进入路径不变。开关 `USE_SLOW_RELEASE`（TaskLoop.h，默认 1；0=原快滤波释放）。单测：τ fast=30ms/slow=140ms，释放时机差 260ms（`tests/test_release_slow_filter.c`）。⚠ 若现场 PD132T 的 SET_FLT=ON（α64 → τ≈175ms），可调 `RELEASE_ALFA` 15（τ≈170ms）更贴近。
 
+> **⚠ V4.04（2026-09-01）方案A 现场复核修正（RELEASE_ALFA 18→21 + 进入 snap）**：金属板复测两现象——① 慢速抬板释放高度 V4B 仍比 PD132T 高一点（跟手速有关）；② 定在 HR0/2（释放高度一半）保持 ~1s V4B 释放、PD132T 不释放。根因：① **τ 对齐用了近似口径**——α18 精确 τ≈137ms vs PD132T α79@43.7ms 精确 τ≈118ms（α=79 时 `T×256/α` 近似公式高估 19.6%），叠加 3 次确认 30ms；② **双滤波进入瞬态假释放**——进入由快滤波 30ms 确认、释放判定用慢滤波，进入确认瞬间慢滤波还悬在基线附近，残余信号落在窄带（SENS=3 时 0.032%~0.044%）时释放条件瞬时为真 → 假释放；PD132T 进出共用同一滤波，结构性免疫。修正：① `RELEASE_ALFA` 18→**21**（精确 τ≈117ms 对齐 PD132T 118ms）；② 进入确认处 **snap `loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD`**（进入线 0.032% 恒深于离开线 0.021%，snap 后释放条件结构性为假）。单测：τ fast=30ms/slow=120ms，释放时机差 200ms；仿真 3s 抬升高度差 +9mm→+3mm，0.10% 板 HR0/2 假释放消除。⚠ 待板级复测。
+
 ##### 模式 2：平坦性判定 (USE_FLATNESS_EXIT=1) — ⚠ 默认禁用（#if 0，代码保留）
 
 基于专利 **CN200910309382**（中山大学），解决大车通行时频率多峰导致的多次误触发。