fix(V4B): 方案A现场复核修正 V4.04 — RELEASE_ALFA 18→21(精确τ117ms对齐PD132T) + 进入snap消除HR0/2假释放

现场金属板复测两现象:
1. 慢速抬板释放高度 V4B 仍比 PD132T 高一点(跟手速有关) — 根因: τ对齐用了近似口径
   (α18 精确τ≈137ms vs PD132T α79@43.7ms 精确τ≈118ms, α=79时 T×256/α 高估19.6%)
   + V4B 3次确认30ms。修正: RELEASE_ALFA 18→21 (精确τ≈117ms)。
2. 定在HR0/2(释放高度一半)保持~1s V4B释放、PD132T不释放 — 根因: 双滤波进入瞬态假释放
   (快滤波30ms确认进入, 慢滤波还悬在基线附近, 残余信号0.032%~0.044%时释放条件瞬时为真)。
   修正: 进入确认瞬间 snap loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD (进入线恒深于离开线, 释放条件结构性为假)。

验证: gcc单测 τ fast=30ms/slow=120ms, 释放时机差 200ms ✓
仿真: 3s抬升高度差 +9mm→+3mm; 0.10%板HR0/2假释放消除 ✓
文档: devlog V2.13 + technical-spec §4.3.3

utilities/at32f421_freertos_demo/src/TaskLoop.c

@@ -783,6 +783,12 @@ void vd1_task(void)
                 loop1_entry_cnt = 0;
                 loop1_freeze_cnt = 0;
                 loop1_freeze_ref = 0;
+#if USE_SLOW_RELEASE
+                /* V4.04: 进入瞬态假释放修正 — snap 慢滤波到当前快滤波值
+                 * 进入线(档3: 0.032%)恒深于离开线(0.021%), snap 后释放条件结构性为假,
+                 * 消除"定在HR0/2保持即释放"窗口(2026-09-01 仿真+现场复核) */
+                loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD;
+#endif
 
                 if (!SET_SAFE) {
                     loop1_LC_HOLD = 1;