wangfq 5803255d89 test(vd960DBN): 实验B — 跳过 load_cfg/output_cfg, 跑飞触发点下移 (2026-08-17) ...

实验A(跳过 offlog_boot)仍循环复位 → offlog_boot 非触发点, 跑飞点下移。
新证据: BOOT_CNT 恒=1 (.noinit 计数器每次被清) → RAM 全丢级重启,
RSTSCKR 却无复位标志 → 疑似掉电-恢复(未触发POR) 而非软件跑飞。

- load_cfg_from_flash + output_cfg_from_flash #if 0, 加 EXPB 标记
- BOOT_CNT 打印加 &g_boot_count 地址, 确认 .noinit 段是否生效
  (地址 >= _ebss≈0x2000612c 且在 .noinit → 复位不清零; 恒1 → RAM被清)

预期: 不崩 → 触发点在参数区SPI读或%s打印; 仍崩 → 触发点更晚/更早

2026-08-17 10:15:21 +08:00

..

include

feat(vd960DBN): 恢复快照区功能, 移除 sim_snap_spi 实验桩, UART2 波特率注释修正

2026-08-14 09:46:23 +08:00

cfig_flash.c

test(vd960DBN): SPI写密度模拟实验 + factory写止血 — VDD跌落诊断

2026-08-13 11:27:08 +08:00

ch32v20x_it.c

fix(vd960DBN): fault_diag 无条件打印 marker — 卡死(非HardFault)也能定位

2026-08-13 16:35:30 +08:00

dbn_ble_srv.c

fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

2026-08-12 18:31:56 +08:00

iot_mqtt_srv.c

fix(vd960DBN): IWDG 无条件启用+喂狗 — 卡死兜底 (卡死定位闭环)

2026-08-13 16:15:26 +08:00

loop_uart_proto.c

feat(vd960DBN): 恢复快照区功能, 移除 sim_snap_spi 实验桩, UART2 波特率注释修正

2026-08-14 09:46:23 +08:00

net_srv.c

feat(vd960DBN): 脱机事件日志系统 (W25Q32 环形) — 解决重复上线取证

2026-08-04 15:04:12 +08:00

offlog.c

fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

2026-08-12 18:31:56 +08:00

peripheral_main.c

test(vd960DBN): 实验B — 跳过 load_cfg/output_cfg, 跑飞触发点下移 (2026-08-17)

2026-08-17 10:15:21 +08:00

peripheral.c

debug(vd960DBN): peripheralChar4Notify 内 resp 队列状态实验打印

2026-08-12 14:08:34 +08:00

simple_json.c

refactor: simple_parse_json 修复空指针崩溃和无\0结尾

2026-07-01 08:55:22 +08:00

snapshot.c

fix(vd960DBN): init/clear 懒擦修复不断重启 — 34s 全量擦除超 IWDG 4s

2026-08-12 18:31:56 +08:00

storage.c

test(vd960DBN): 跳过 snap_init 实验 — SPI 序列还原旧固件

2026-08-12 19:34:55 +08:00

system_ch32v20x.c

refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配

2026-06-25 16:21:57 +08:00

tcp_json_srv.c

fix(vd960DBN): UART2 粘帧/checksum fail — 高频打印关中断丢字节 + flag 不清

2026-08-13 17:43:24 +08:00

usart_biz.c

fix(vd960DBN): UART2 粘帧/checksum fail — 高频打印关中断丢字节 + flag 不清

2026-08-13 17:43:24 +08:00