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wangfq 3d8f412f33 feat(V4B): V4.07 SENS=0 触发回调 357→337 — 最终表 {337,71,38,25}/{51,27,18,12}
现场反馈: 等比值偏低档触发过深, SENS=0 回调至 337(300~357 折中)
- 进入表: {357,71,38,25} → {337,71,38,25}
- 释放表: {51,27,18,12} 不变
单测: test_planb_release.c 断言更新(V4.07), 全部通过
文档: devlog V2.16 + technical-spec §4.3.3
2026-09-01 15:31:05 +08:00
wangfq 778664067e feat(V4B): 方案B现场调校定稿 V4.06 — 进入加深+释放调浅双表, 全档等比
现场实测: SENS=3 进入21→25 + 释放14→12 接近PD132T最高灵敏手感(用户调校)
- 关键认知: 释放方向是CAPVD向Origin恢复, 释放线调浅(dlt小)→更晚释放
  (V4.05加深方向失败已记录, 现场实测确认调小有效)
- 全档等比: 进入×25/21 {300,60,32,21}→{357,71,38,25}
          释放×12/14 {60,32,21,14}→{51,27,18,12}
- 滞回 66%→47%, 触发更严+释放更晚, 行为等效PD132T(表值不再一致)
- 废弃 ReleaseTable_B 独立表(方向错误, 并入 SensTable_1 调校)

单测: test_planb_release.c 更新(滞回正/表值/调浅释放≥原始4档×4速/释放时刻) ✓
      test_release_slow_filter.c(方案A)仍通过
文档: devlog V2.15 + technical-spec §4.3.3 V4.06段
⚠ SENS=0 进入300→357变化大, 现场低档漏检可单独回调
2026-09-01 14:38:52 +08:00
wangfq 60413be73f feat(V4B): 方案B实验 V4.05 — USE_SLOW_RELEASE=0 + 调深释放阈值表 ReleaseTable_B
对比路线(与V4.04方案A A/B): 释放走快滤波(无慢滤波状态, 消除悬停风险),
手感对齐改由调深释放表 {80,42,27,18}(原始{60,32,21,14}加深30%)承担。

⚠关键认知(仿真+单测双确认): 释放方向是CAPVD向Origin恢复,
dlt增大(调深)→释放线降低→释放更早(与'调深=更严格'直觉相反)。
仿真预测: 深信号(≥0.2%)原始表更接近PD132T; 浅信号(0.1%)加深表更接近。

单测: tests/test_planb_release.c 新增(滞回为正✓/加深表释放≤原始表✓/释放时刻合理✓)
     test_release_slow_filter.c(方案A)仍通过, 两方案可回归
文档: devlog V2.14 + technical-spec §4.3.3 方案B段
2026-09-01 13:48:22 +08:00
wangfq 97a7fb2dba fix(V4B): 方案A现场复核修正 V4.04 — RELEASE_ALFA 18→21(精确τ117ms对齐PD132T) + 进入snap消除HR0/2假释放
现场金属板复测两现象:
1. 慢速抬板释放高度 V4B 仍比 PD132T 高一点(跟手速有关) — 根因: τ对齐用了近似口径
   (α18 精确τ≈137ms vs PD132T α79@43.7ms 精确τ≈118ms, α=79时 T×256/α 高估19.6%)
   + V4B 3次确认30ms。修正: RELEASE_ALFA 18→21 (精确τ≈117ms)。
2. 定在HR0/2(释放高度一半)保持~1s V4B释放、PD132T不释放 — 根因: 双滤波进入瞬态假释放
   (快滤波30ms确认进入, 慢滤波还悬在基线附近, 残余信号0.032%~0.044%时释放条件瞬时为真)。
   修正: 进入确认瞬间 snap loop1_CAPVD_slow = loop1_CAPVD (进入线恒深于离开线, 释放条件结构性为假)。

验证: gcc单测 τ fast=30ms/slow=120ms, 释放时机差 200ms ✓
仿真: 3s抬升高度差 +9mm→+3mm; 0.10%板HR0/2假释放消除 ✓
文档: devlog V2.13 + technical-spec §4.3.3
2026-09-01 09:46:55 +08:00
wangfq 9391e1b808 feat(V4B): 释放手感对齐 PD132T — 释放慢滤波(方案A, 固件 V4.03)
现场金属板测试: 灵敏度表已对齐, 但释放高度 V4B 比 PD132T 低
(刚离开触发位置即释放 vs 需离更远)。根因: IIR 滤波时间常数差异
(V4B 10ms+α79→τ32ms vs PD132T 43.7ms+α79/64→τ142~175ms),
释放阈值浅(进入20%)放大差异。

修复(USE_SLOW_RELEASE 开关, 默认 1):
- 新增独立慢滤波 loop1_CAPVD_slow(α=18/256 @10ms→τ≈142ms),
  吃原始 Value 不经斜率限幅, 复刻 PD132T 恢复速度
- 离开判定改用慢滤波值, 进入路径不变
- RELEASE_ALFA=18 可调(PD132T SET_FLT=ON 时用 15≈τ170ms)
- 同步: INIT_VD/稳定期/线圈重连
- 版本 V4.03(顺带修正 cmcng.h 字符串"4.00"与数字 4/2 不一致)

验证: gcc 单测 tests/test_release_slow_filter.c
τ fast=30ms/slow=140ms; 释放时机差 260ms ✓
文档: technical-spec §4.3.3 + devlog V2.12
待板级: 真机金属板测试 + MRS 编译
2026-08-31 16:52:45 +08:00
wangfq 7b95eb1183 init: DLD154V4B 单路车检器项目 2026-06-22 18:20:37 +08:00