 wangfq
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feat(vd960DBN): 事件日志区动态分区 — JEDEC ID 选档 (ROADMAP 落地)
- offlog.h: OfflogPart 运行时分区表 + g_offlog_part; AREA_BASE 改 0x090000
(参数64KB+OTA512KB); 容量宏展开为运行时值(主体零改动)
- offlog.c: offlog_part_detect() 读 JEDEC ID → 事件区容量
W25Q32=512KB/16256条, Q64=1MB/32640, Q128=2MB/65408, Q256=4MB/130944
- storage.c/h: SPI_Flash_ReadJEDEC_ID() (0x9F, 校验 EF 40)
- 旧固件事件区 0x010000 自动废弃(新地址无 magic → 重建), 预期行为
- 测试: mock JEDEC=0x16 + g_offlog_part, 15 例全过
- 文档: BLE/MQTT/TCP 协议 capacity 8064→动态, 交互示例, devlog
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2026-08-12 16:46:19 +08:00 |
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wangfq
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feat(vd960DBN): offlog 协议导出命令分发 — log_stat/log_query/log_clear 落地
协议先行 (08893d5, MQTT V1.06 + TCP JSON V1.02) 的固件侧实现:
- offlog 新增导出 API: enabled/seq_last/type_str/evt_to_json
(seq_first=seq_last-count+1, idx=start_seq-seq_first, count≤4)
- MQTT iot_handle_publish 三分支: log_stat/log_query/log_clear
(log_query 响应 static buf 防大栈; log_clear 阻塞~2.8s 主循环可接受)
- TCP JSON 三 handler + cmd 表 (需鉴权)
- 单测新增 test_export_json (8 例全过): boot rst 大端/coil sub/evt_retry/data:null/seq 公式
- devlog V3.9
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2026-08-05 08:53:18 +08:00 |
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wangfq
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90755bf465
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feat(vd960DBN): offlog TIME_ANCHOR 严格用平台下发 unix_ts
offlog_time_anchor 原丢弃传参内部重取 dev_time_now() (毫秒级误差),
改为 offlog_evt_ts() 直接写入平台下发值, 锚点事件与平台 ts 严格一致。
新增单测 test_time_anchor_exact, 7 例 ALL PASS
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2026-08-04 18:10:18 +08:00 |
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wangfq
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ac3fb512d5
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feat(vd960DBN): 脱机事件日志系统 (W25Q32 环形) — 解决重复上线取证
背景: 设备挂平台测试出现重复上线(现场未断电), 无本地日志无法区分
设备真复位 vs MQTT 断连重连。iot_handle_suback 每次重连都发
initialize 是重复上线的直接证据, 日志需能区分二者。
实现 (V3.6, ROADMAP P1.2 事件流先行):
- offlog.c/h: W25Q32 256KB 环形事件日志 (头扇区+63数据扇区, 8064条)
- 32B 定长记录: magic/type/len/flags/seq/ts_ms/unix_ts/boot_seq/payload[12]
- 8 类事件: BOOT(复位原因)/IOT_CONNECT/READY/DISCONN/RECONN/
EVT_RETRY/GIVEUP/COIL/TIME_ANCHOR/LOG_CLEAR
- 掉电恢复: 头扇区写指针锚点 + 上电 seq 连续性扫描
- 编译期断言防 32B padding 回归
- 插桩 (全部主循环上下文, socket 中断内不写 SPI):
- main(): offlog_init + RCC_RSTSCKR 复位原因采集/清除
- iot_mqtt_poll(): MQTT 状态沿检测 (CONNECT/READY/DISCONN)
- 重连退避/TCP超时/CONNACK拒绝: RECONN/DISCONN(4)/(3)
- iot_evt_process/enqueue: EVT_RETRY/GIVEUP/COIL
- net_srv.c dev_time_sync: TIME_ANCHOR 时钟同步锚点
- tests/test_offlog.c: gcc 隔离单测 6 例 (mock W25Q32 NOR 语义)
关键坑: ①中断内写SPI阻塞 ②结构体36B padding致环形错乱
③扇区级覆盖粒度count扣减语义 (均单测抓出)
待办: P1.3 导出命令(log_query/stat/clear) + 快照流 + 复位原因板上验证
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2026-08-04 15:04:12 +08:00 |
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