 wangfq
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fix(vd960DBN): 栈溢出止血 — load_cfg 去调试打印, output_cfg 暂关 (2026-08-17)
实验D确认 load_cfg/output_cfg 为跑飞触发点。根因: .bss≈46KB
(BLE栈+ETH DMA 7.6KB+SPI_FLASH_BUF 4KB+网络缓冲) 挤占 RAM,
栈仅 ~1.9KB (BOOT_CNT@0x2000f84c 证明 .noinit 被推到 RAM 顶)。
load_cfg 的 printf 栈峰值触顶 → 覆盖 .noinit+返回地址 → PC 跑飞循环。
修复:
- cfig_flash.c: load_cfg 内 3 处调试 PRINT 注释 (magic mismatch×2 + Sub_Code×1)
- peripheral_main.c: load_cfg 恢复(配置加载保留); output_cfg 调用 #if 0 (纯调试打印)
- devlog: 实验D结论 + 修复记录
根治待办: 减 .bss 给栈腾 4KB+ (需 .map 确认大数组);
output_cfg 恢复调试打印前需减栈压力
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2026-08-17 11:06:56 +08:00 |
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wangfq
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test(vd960DBN): SPI写密度模拟实验 + factory写止血 — VDD跌落诊断
- peripheral_main: sim_snap_spi 模拟快照落盘节奏 (20ms 64B页写 + 每64条切扇区擦除+头写)
- cfig_flash: magic不匹配时跳过 factory SPI_Flash_Write, 用内存默认值继续
(SPI写触发硬件复位死循环止血: 参数区0x00写也崩, RST=0x00000000)
- 诊断修正: CH32V208GBU6 QFN28 无 NRST 引脚, 共线假设作废;
SPI写/擦除→电流尖峰→VDD跌落→内部POR/PDR(2.4V)复位;
BLE射频+SPI电流叠加是头号嫌疑
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2026-08-13 11:27:08 +08:00 |
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wangfq
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ab3a4cea0a
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fix: 出厂默认 topic 使用真实设备序列号 + PRINT 修正
- cfig_flash.c: factory_dev_info() 用 gMacAddr 生成真实主题 dld960/{SN}/srv + dld960/{SN}/dev
- net_srv.h: TOPIC_DEFAULT 加注释标明为格式模板
- net_srv.c: 修复上次提交的 PRINT 宏转义异常
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2026-07-07 10:57:20 +08:00 |
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wangfq
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fix(vd960DBN): 修复无法设置 IoT 模式的 bug
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2026-07-06 10:24:15 +08:00 |
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wangfq
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refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配
- 用 DLD154V4B vd1_task/per_channel 替换 vds_task 复杂算法
- 移除 FUNCTION_B/二次判断/快速变化/多重确认等增强特性
- 保留平坦性离开算法 (CN200910309382)，每通道独立状态
- 灵敏度表改为 DLD154V4B 4级: {216,108,36,10} / {108,72,18,9}
- 清理废弃类型: FltHistoryManager, Loop_ACS_Info, StageRangeConfig 等
- 首次添加 vd960DBN 完整源码
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2026-06-25 16:21:57 +08:00 |
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