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wangfq	87c8e01936	test(vd960DBN): SPI写密度模拟实验 + factory写止血 — VDD跌落诊断 ... - peripheral_main: sim_snap_spi 模拟快照落盘节奏 (20ms 64B页写 + 每64条切扇区擦除+头写) - cfig_flash: magic不匹配时跳过 factory SPI_Flash_Write, 用内存默认值继续 (SPI写触发硬件复位死循环止血: 参数区0x00写也崩, RST=0x00000000) - 诊断修正: CH32V208GBU6 QFN28 无 NRST 引脚, 共线假设作废; SPI写/擦除→电流尖峰→VDD跌落→内部POR/PDR(2.4V)复位; BLE射频+SPI电流叠加是头号嫌疑	2026-08-13 11:27:08 +08:00
wangfq	ab3a4cea0a	fix: 出厂默认 topic 使用真实设备序列号 + PRINT 修正 ... - cfig_flash.c: factory_dev_info() 用 gMacAddr 生成真实主题 dld960/{SN}/srv + dld960/{SN}/dev - net_srv.h: TOPIC_DEFAULT 加注释标明为格式模板 - net_srv.c: 修复上次提交的 PRINT 宏转义异常	2026-07-07 10:57:20 +08:00
wangfq	e6dbdb5296	fix(vd960DBN): 修复无法设置 IoT 模式的 bug	2026-07-06 10:24:15 +08:00
wangfq	95808f9f25	refactor(vd960Loop): 算法回退到 DLD154V4B，四通道适配 ... - 用 DLD154V4B vd1_task/per_channel 替换 vds_task 复杂算法 - 移除 FUNCTION_B/二次判断/快速变化/多重确认等增强特性 - 保留平坦性离开算法 (CN200910309382)，每通道独立状态 - 灵敏度表改为 DLD154V4B 4级: {216,108,36,10} / {108,72,18,9} - 清理废弃类型: FltHistoryManager, Loop_ACS_Info, StageRangeConfig 等 - 首次添加 vd960DBN 完整源码	2026-06-25 16:21:57 +08:00